哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？(离子,质谱,同位素,射线,灵敏度) - 有机|无机化学 - 生物秀
标题: 哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？(离子,质谱,同位素,射线,灵敏度)
摘要: 哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？SIMS可以做形貌分析？可以测元素的分布情况？网友回复1，二次离子质谱仪，是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱可以分析除了氢以外的全部元素，并能给出同位素的信息，分析化合物组分和分子结构。二次离子质谱具有很高的灵敏度，可达到ppm甚至ppb的量级，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析2.XPS……
哪位高人指导下XPS和SIMS得区别和用途啊？
SIMS可以做形貌分析？可以测元素的分布情况？网友回复1，二次离子质谱仪，是利用质谱法分析初级离子入射靶面后，溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。二次离子质谱可以分析除了氢以外的全部元素，并能给出的信息，分析化合物组分和分子结构。
二次离子质谱具有很高的灵敏度，可达到ppm甚至ppb的量级，还可以进行微区成分成像和深度剖面分析
2.XPS=X-ray Photoelectron Spectroscopy X射线光电子能谱分析
　　待测物受X光照射后内部电子吸收光能而脱离待测物表面(光电子)，透过对光电子能量的分析可了解待测物组成,XPS主要应用是测定电子的结合能来实现对表面元素的定性分析，包括价态。网友回复SIMS可以类似SEM那样测出某种元素在样本中的位置么？
类似于纤维在基体中的位置？
谢谢网友回复一起学习了一下，谢谢:D网友回复xps光电子能谱跟SIMS都是表面分析的手段，都是对物质（比如高分子）进行表面状态分析比较重要的手段~~xps的基本原理是光电效应，所用光源是x射线，通过检测打出的内层电子的能量来获得谱图（因为检测的是能量，所以称为能谱而非光谱），可以定性定量的分析物质表面信息，是高分子当中进行表面分析最常用的手段。
SIMS本质上还是一种质谱手段，除了激发源是采用离子枪之外（质谱是高能电子束轰击样品），其余与质谱完全一样，所以目前一般采用四级杆质谱仪跟SIMS连用。
xps的缺点是不能测定H,He（因为这两种元素不存在内层电子，而x光打出来的是内层电子），但SIMS可以测定所有元素，包括。但SIMS有个缺点，就是它是一种破坏性的实验手段，这点xps要好些，但是高聚物很多对x光敏感，有可能长时间经受x光照射发生X-Ray damage（x光损伤），所以拿到xps谱图要慎重考虑。除此之外，SIMS灵敏度要高点，但xps分辨率就要相应差一点~~
还有什么不明白的请跟帖，顺便说一句，二楼不知道就不要在那瞎说，误人误己，学术大忌网友回复主要区别：
1、XPS来自10 nm以内的表面信息；
2. SIMS来自比xps更表面的信息，大约在2nm以内。
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用xps分析我的材料里的铜含量
小弟在做一种高分子聚合物，用亚铜催化，得到的产物一种方法得到的是黄色的，一种方法得到是绿色的，怀疑一价铜变成二价铜参与参与了配位，做了XPS，想看看铜残留多少，但小弟是xps新手。网上说铜的峰925-975，实验老师让我选中cu的峰然后点击add peak就可以了。自动给出数据。但是925-975的峰比较杂，基线不平，积分变成负的了（图二），最近文章大修补的数据。。很急。希望大家帮帮忙
1，不知是不是应该选择其中一段进行积分还是如何处理？
2，925-975中除了932左右，953和964都出现峰，这说明什么问题？是cu吗？
3，那个下面那个绿色的线是拟合背景的吗？稍微一动。含量就变化很大。怎么去确定范围？
3，如果哪位能帮帮忙，帮我分析一下铜的含量是多少？我会奉献100金币。。因为大修的时间快到了。还有很多实验没补，没有太多时间去学习。只想拿到数据先，附件里有原始数据和导出的数据。实在惭愧。。。
nanorods.JPG
nanaspheres.JPG
你看看全谱中有没有，若是有，估计样品中就含有。你可以去问问测试老师。
你好，你是用什么软件分峰的？是XPSPEAK软件还是Origin软件呢？
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