触摸屏制造工艺实战与难点李星[六] 牛顿环（彩虹）的前世今生在电阻式触摸屏和液晶显示器的生产加工过程中，牛顿环（有些厂家也叫彩虹纹，或干脆叫彩虹）就象一个漂荡在工场的幽灵，一不小心，它就时不时的在生产与客户使用过程中出现，弄得不少在工场做现场管理的工艺技术人员神魂颠倒。不是因为这彩虹太美丽，而是这美丽的品质杀手，在目前的行业中，太容易闯祸，让别人一眼精艳的挑出毛病来。在显示器模组中，牛顿环出现的区域，因为光线干涉的原故，会造成色彩叠加因而导致最终显现的色彩不正，另一方面，也降低了该区域的显示对比度，所以都是作为致命的主要缺陷列置。 一、 牛顿环的产生机理我们知道，不管是电阻式触摸屏，还是液晶显示器，支撑主体都是两块ITO玻璃或一块ITO玻璃，一块ITO FILM，如果有一面材料产生形变，材料ITO内表面产生一个曲率半径的曲面，跟平常物理光学里讲的产生牛顿环的凸透镜与平面镜内表面的效果是一样的，牛顿环同样是体现了光线在相对的两个表面因反射光线与入射光线光程差与波长间的关系。它同样的，会因为光程差的增大，也就是两表面间的距离增加，牛顿环的间距也会增大。在实际生产过程中，不管电阻式触摸屏也好，液晶显示器也好，都会把外框支撑处的间隙距离做得比中间的稍微大一些，如果工艺中参数稍有差离，那么这种距离差就没法消除，这样就让两个表面的产生一定的中间向内凹陷，这样光线在两个表面间的光程差就会产生不一样，在入射光与反射光的互相干涉过程中，就会按不同的光程差区域选择出不同的波长出来，显现出对应波长的颜色。二、 实际生产中牛顿环产生的地方与原因在液晶显示器模块中，有三种地方最容易产生牛顿环：1、液晶显示器内部产生的彩虹。液晶显示器的盒厚一般都在10微米以下，如果里面的空间粒子数量不够，或分布不均匀，或是外框与内部支撑的空间粒子直径搭配不适合工场设计的工艺，都会产生彩虹缺陷。另一个主要的产生原因是，成盒过程中，盒内被超过空间粒子直径的外物所污染，这也是液晶显示器工场对于洁净环境管控十分严厉的缘由。2、液晶显示器与电阻式触摸屏之间的水波纹（也叫水纹）这种水波纹，同样是牛顿环中的一种，特别是电阻式触摸屏动作时，加在电阻式触摸屏上的外界压力引起电阻式触摸屏下表面弯曲变形时，会随着力度的变化，牛顿环的色彩半径也会移动、生成或消失，就跟水面投进石子产生的水波纹一样，所以这种牛顿环也叫水波纹或水纹，表现出来是会随动作地点和动作压力的变化而变化。3、电阻式触摸屏内部的牛顿环（也叫彩虹纹）电阻式触摸屏在生产过程中，为了产生一个触动区域的变形量，外框的高度一般要比里面的支撑点高出很多，如果印制水性粘胶做外框的话，一般高度在50~70微米左右；如果是使用PET基材双面胶，一般也在50微米以上，而里面的支撑点，一般不到25微米，如果使用直径30~45微米的DOT，支撑点最后的成型高度也只有15~25微米左右。加上电阻式触摸屏的操作面，同样是为了产生一个触动区域的变形量，一般都是ITO FILM，材质是柔性的。这样，如果生产过程中工艺参数控制不精确，不用动作操作，处于产品靠中间部分的ITO FILM，自己都会塌陷，贴在支撑点上，产生曲面变形，这样，入射光线与两个ITO内表面的反面光线产生干涉，便形成了牛顿环。 三、如何测算预防牛顿环产生的设计参数在实际生产中，如何有效的防止牛顿环的产生，同样可以根据牛顿环的光学规律进行预防。在我们开始设计产品这初，可以根据产品外形尺寸，计算出内外框的高度数值是多少时，牛顿环的暗环内环半径，会落在产品尺寸以外，这样就可以优化出自己的设计参数。（如何计算及原理公式，可参考附件《等厚干涉实验》）。当然，上面这种方法只是理论上的验证，实际上，如果真正的按照计算数据，我们就无法做出客户需求的产品了，不过这种计算，可以指导我们在生产中，如何尽量靠近理论数值。有人会说，那计算出来的不一定准确，生产中又不能避免，就没有更好的办法了吗？有，还是参考附件《等厚干涉实验》的方法，用显微镜或千分尺来测出你的上膜往下变形偏移多少时，牛顿环就出现了，再算出你的牛顿环出现时最小的中间空间粒子或支撑点的厚度，如果与压力计一起配合，还能测出产品出现牛顿环时，所受的压力是多少。所以，有时想想办法，事情总是很简单的，关键是，不要把自己搞不清的问题神化，再以讹传讹。另外这个行业刚刚经历大爆发，其中多数的技术人员或管理人员都是原来二、三个老厂里的员工，所受的文化素质、技术素质和职业道德素质有多少，大家心知肚明，说不定老板本身就有这方面的缺陷，还能指望你的手下吗？题外话了。反正，任何的问题，都有办法解决，没有什么的行业难题，大家都是这样之类的东西，有可能大家都是这样，也就是原来那二、三家厂是这样，不代表整个行业是这样，至少日本厂的问题与台资厂的问题和大陆厂的问题，就完全不一样。问题的出现，先从试验方法上论证，再从实验数据上验证，再从工艺参数上调整。 四、如何从工艺上预防牛顿环的产生1、液晶显示器的彩虹彩虹缺陷可以很快的用显微镜找到根源，如果是点状的，可以在显微镜下看到三种情况：空间粒子数量少，空间粒子聚集结团，盒内异物。这样的缺陷，就按观察到的现象，可以马上从调整前面空间粒子撒布机的参数，空间粒子撒布段与组合段的环境洁净维护两方面进行预防。如果是整个液晶显示器都是彩虹，那要么是外框和盒内部空间粒子搭配错误，要么是盒内空间粒子数量不够或没有。这样的缺陷，可能检查前面空间粒子撒布的工艺材料参数，粒子检测数据上，调整参数进行预防。如果是盒外框附近出现彩虹，要么是外框封装材料受异物污染，可以从显微镜里看到，要么是成盒受力不均引起，需要检查成盒设备并进行维护。成盒设备出现故障，或成盒过程中夹有异物引起彩虹，都会在相邻的另外几片产品相同位置产生牛顿环，也就是说会有规律性。 2、电阻式触摸屏与液晶显示器间的水波纹要防止水波纹的产生，一是增加电阻式触摸屏的强度，比如说原来是用PC基材的换成受力更大的压加力或玻璃材质，或者是由原来薄的基材，换成厚的基材。这也是为什么尺寸超过一定的电阻式触摸屏产品就要用2MM厚度的玻璃或强化玻璃的原因之一。所有的设计参数变化，都是有道理的，并不是从外面瞎抄就能抄到的，如果不明原理瞎抄，要么浪费你的材料和品质成本，要么无法避免自己潜在的品质缺陷与产品良品率。其次是可以在满足客户要求的情况下，电阻式触摸屏与液晶显示器之间的组装双面胶选用更厚的厚度，让牛顿环的暗环移到产品尺寸之外。或者在电阻式触摸屏与液晶显示器的组装面也印制上支撑点，把外来压力通过支撑点转移到液晶显示器和主板外壳上，减少电阻式触摸屏的变形量，预防牛顿环，也就是水波纹的产生。如果能够满足产品的显示需求，在能接受显示效果的条件，也可以把电阻式触摸屏与液晶显示器组合面液晶显示器上的偏光片换成防眩偏光片。注意，防眩偏光片的近观显示效果比普通偏光片显示效果要差很多，特别是QVGA以上液晶显示器，如果更换后，显示图案的精细度、反应速度和对比度，都会明显下降，所以一定要最终客户确定显示效果后才能更换。 3、电阻式触摸屏的牛顿环电阻式触摸屏的牛顿环预防起来确实要比较麻烦，因为多数电阻式触摸屏的操作面，采用了柔性的ITO FILM基材。预防电阻式触摸屏的牛顿环，首先要在ITO FILM调质处理过程中，选择好适合自己的工装治具和设备的调质处理参数，让ITO FILM各部分同步收缩，不产生因收缩不均匀产生的不平整，或把装载治具上的不平整转移到ITO FILM上。这种因ITO FILM调质处理没做好而产生的牛顿环，有个很明显的特点，如果是组合再分粒的产品，组合好后看不到牛顿环，但在产品分粒后48小时左右就会出现。支撑点的高度控制，也是预防牛顿环的主要方式，通过上面的计算，可以看出，去撑点的高度超过一定的数值，就会很难形成了，或都是间距很大，被淡化了，所以我们一定要保证一定的支撑点高度。支撑点的高度肯定与支撑点附著面积有一定的关系，在同样的条件下，高度越高，支撑点附著面积也越大，对于一些精细画质的液晶显示器来说，像素大小可能只有60到90微米，如果一个支撑点大小超过像素大小的一半以后，那么这个像素就会产生显示畸变，在一定的距离上观察，能把整个支撑点布局从显示画面上显现出来。为了解决这一问题，日本厂家在窄边设计的小尺寸产品中，使用模具或加垫片组合的方式，让产品填充空气，人为的增加产品内表面间的距离，即避免了牛顿环的出现，也不用为外框设计十分复杂又难制作的通气通道，同时也可以设计出附著面积很小的支撑点来。充气方式的缺陷是，不能用在温差变化剧烈的环境里或大尺寸产品中。特别是印制水性粘胶的产品，由于又是窄边设计，又难以操作，造成粘结力不足。在温度剧烈变化后，很容易造成漏气，漏气后，避免牛顿环作用就没了。很多厂商的产品在出厂前放在自己恒温仓库没有问题，拿到客户的普通仓库放置一个星期，或干脆只是经过了汽车运输，产品就出现的牛顿环现象，就是这个原因。所以充气并不是对付牛顿环一招鲜的祖传秘方，如果不考虑产品的使用条件与环境，再加上其他的辅助工艺配合的话，起不到真正的作用。电阻式触摸屏敏感区的牛顿环，同样是各个工艺材料厚度的组合以及FPC热压温度压力参数不合适产生的，基本上可以调整FPC材料厚度和热压参数就可以解决。至于一些观看距离比较远的大尺寸显示器产品，因为像素尺寸也比较大，完全可以用50到60微米大小的支撑点，除非是支撑点印制不均匀或支撑点高度塌陷，一般不会出现牛顿环现象了。 五、结语牛顿环，无非就是平行入射光与反射光互相干涉产生的，这种干涉只在一定的光程差内才会显现出来。要避免牛顿环的产生，一种方法是打乱光线传播方向，比如说在电阻式触摸屏上，使用雾面ITO FILM；在液晶显示器上使用防眩偏光片等；另一种方法是保证内表面的平行度，让内表的曲率半径够大，让牛顿环的暗环区扩大到产品之外；还有就是加大两表面的光程差，让牛顿环的暗环区落在产品尺寸外或加大牛顿环相邻环的距离，淡化牛顿环。只要根据牛顿环的产生机理，在生产过程中加以控制，牛顿环并不是一个品质幽灵。 附1： 等厚干涉实验【实验目的】 1.观察研究等厚干涉现象。2.利用等厚干涉测量微小厚度和凸透镜的曲率半径。3.学习逐差法处理数据。 【实验原理】 利用透明薄膜两表面对入射光的依次反射，入射光的振幅波分解成有一定光程差(Optical path length difference)的几个部分。这是一种获得相干光的重要途径，称为分振幅法，它被多种干涉仪所采用。若两束反射光在相遇时的光程差取决于产生反射光的薄膜厚度，则同一干涉条纹上各点所对应的薄膜厚度相同，这就是等厚干涉(Interference of equalthickness)。在白光照射下，肥皂泡、油膜以及氧化的金属表面上的彩虹，都是薄膜上常见的等厚干涉现象。这种干涉条纹类似于地形图上的等高线，每一条纹就是膜上一切光学厚度(薄膜折射率n与厚度d的乘积nd)为常数的点的轨迹。一般情况下，n并不改变，所以条纹的位置实际上对应于薄膜厚度为常数的区域。本实验将根据等厚干涉条纹的分布分析薄膜的特性。一、用劈形膜测微小厚度如图4.1.1，把两块光学平玻璃OB和OA迭在一起(图中略去了玻璃厚度)，在一端插入欲测厚度的薄片，则在两玻璃板间形成一个劈形空气膜(Wedge-shaped airfilm)，也称空气劈尖。当用单色平行光垂直照射时，任一条光线在空气劈尖上下两表面反射产生的两条光线是相干光，考虑到空气的折射率可看作是1，其光程差为 δ=2e+λ2
(4.1.1)式中e为入射点薄膜的厚度，λ为入射光的波长。当
δ=(2k+1)λ2 ，
k=0，1，2，…
(4.1.2a) 是相消干涉，呈暗条纹； 当
k=1，2，…
(4.1.2b)是相长干涉，呈明条纹。整个劈形空气膜上的干涉呈现一族与劈棱平行的间隔相等、明暗相间的直条纹，且相邻条纹之间的厚度差Δe=λ2。 图4.1.1
劈形薄膜干涉的观测 (4.1.2a)和(4.1.2b)式表示的是最大相消、相长干涉的条件，对应于干涉条纹的最暗和最明。实际上条纹的明暗是逐渐过渡的，并无明显的界限，但由于人眼容易判定最暗，所以常观测暗条纹来进行有关的测量。把(4.1.1)式和(4.1.2a)式联立，解得与k级暗条纹对应的空气膜厚度为e=kλ2
(4.1.3)设劈尖上由劈棱到被测厚度之间暗条总数为N，则被测厚度 d=Nλ2
(4.1.4) 若入射光波长λ已知，则数出N即可求得d。二、用牛顿环测平凸透镜的曲率半径设被测平凸透镜的凸面曲率半径是R，把它的凸面与一光学平玻璃迭在一起，如图4.1.2(a)，则二者之间就形成一空气薄膜，中间接触点厚度为向边缘逐渐变厚。当波长为λ的单色光垂直射入时，干涉图样是以接触点为中心的同心园环，明暗相间，中心条纹宽而疏、边缘条纹细而密，称为牛顿环(Newton′s
ring)，如图4.1.2(b)，牛顿环也是等厚干涉条纹，表示劈形空气膜光程差的(4.1.1)式仍然适用。由图4.1.2(a)可知。R2=r2+(R-e)2化简得r2=2eR-e2由于空气膜的厚度远小于透镜的曲率半径，即e<<R，可略去e2，得r2(4.1.5) e=2R将（4.1.5）式代入(4.1.1)式，得r2λδ=+ R2与相消干涉的条件δ=(2k+1)2λ2联立，可解得 rk=kRλ,
k=0，1，2，…
(4.1.6)式中rk为第k级暗环的半径，λ已知，测出rk就可由(4.1.6)式求得R。理论上，透镜凸面和平板玻璃只有一点接触，但由于接触压力引起的形变，接触处实际上为一圆面；再者，若有微小尘粒，又能使两玻璃面相离一定距离而没有接触点，这两种情况都引入附加的光程差，给测量结果带来系统误差。设附加厚度为±a，则由相消干涉的条件
δ=2(e±a)+得
e=k将(4.1.5)式代入2λ2=(2k+1)λ2 λ2±a 图4.1.2
r=kRλ±2Ra即系数误差相当于（4.1.6）式右端增加了一常数项±2Ra。此误差可用下述方法消除。取第m、n级暗条纹，相应的暗环半径为 rm=mRλ±2Ra,rn=nRλ±2Ra 两式相减，即可消去附加项，得22rm-rn=(m-n)Rλ 在实验中，由于不易确定暗环中心,因而不便测暗环的半径，所以用易测量的直径取代得 22d-dn
（4.1.7） 4(m-n)λ三、等厚条纹的定性判断等厚干涉相邻暗条纹间的薄膜厚度恒差半个波长，这一事实启发我们用作图法定性判断各种形状的条纹的分布。以薄膜表面OA为基准，以λ/2的象征间距，作一平行线族，各条平行线与薄膜表面OB的交点记为1、2、3，…，从这些点向下投影，即可定出干涉条纹的位置。图4.1.3画出两个棱角不等的劈尖和一个单调增厚的曲面薄膜产生的等厚条纹。
等厚条纹的分布与薄膜厚度变化的关系【实验仪器】一、测量显微镜（读数显微镜）测量长度时，如果被测物体不能与量具直接接触，或者被测物体较小时，常用光学仪器来进行测量，其中最常用的就是测量显微镜（Measuring microscope），也叫读数显微镜（Reading microscope）。它可以用来测量刻线距离、刻线宽度、园孔直径等，用途较广。显微镜的光路如图4.1.4。被测物位于物镜焦点F1外稍远处，因此通过物镜成一个放大的实像，位于目镜焦点F2之内一点。此实像作为目镜的物，经目镜成虚像到明视距离上进行观测。显微镜上装配一定的测量系统就成为测量显微镜，其读数原理与千分尺相同，图4.1.5是载物台移动式显微镜，图4.1.6是其光学系统，目镜安装在目镜座的目镜套管内，可前后伸缩，目镜止动螺旋可以固定目镜的位置，目镜可转动，也有固定螺旋。物镜直接装在镜筒上。转动调焦轮，可使显微镜筒上下升降进行调焦。测量时，旋转测微鼓轮，载物台沿X轴方向移动，旋转测微器则载物台沿Y轴方向移动。测微鼓轮上刻有100条等分线，每格相当于移动0.01mm，其仪器最大允许误差（MPE）为△ 仪=±0.005mm。 图4.1.4
显微镜光路图 测量显微镜的调节和使用步骤如下：1.采光。调整反光镜的角度，使从目镜中看到明亮的视场。2.调叉丝像清晰。叉丝是用于测量的准线，所以在使用之前，必须改变目镜和叉丝之间的距离，使得叉丝清晰。方法是转动目镜筒的端盖(目镜就安装在此盖上)，使从目镜中观察到的叉丝清晰(即叉丝成虚像在明视距离上)。用目镜观察时，两眼都要睁开，两眼离开目镜适当距离，以能轻松地看清叉丝和整个视场为宜。3.调待测物的像清晰。把待测物放在载物台的中心，旋转X轴测微器与Y轴测微器使待测物与物镜对准。从侧面观察，旋动调焦手轮使整个镜筒下移接近但不能接触待测物。然后反向旋动调焦手轮使镜筒上升，同时从目镜中观察，直至看清物体的像，此步调节称为调焦。注意：从目镜中观察时，切不可错调手轮，以免物镜与待测物接触而损坏仪器和待测物。测圆的直径时，务必要调焦到圆的边缘清晰，调焦正确时，待测物准确成像在叉丝平面上。如略有偏差，很难直接判断，此时可左右晃动眼睛，观察物像与叉丝有无相对移动，如有，则说明物体成像面与叉丝平面不重合，这种现象就是视差（关于视差可参见§2.2望远镜的介绍）。此时需要继续细致的调焦，直至消除视差才能进行下一步调节。4.调叉丝方位。其目的是使横竖叉丝分别与载物台的X轴和Y轴平行。先粗调，松开目镜的止动螺丝，转动目镜筒，使从目镜中观察到的叉丝尽量横平竖直。再细调，(1)用X、Y测微器将物像调到叉丝交点处，且与横叉丝相切，如图4.1.7（a）；(2)用X轴测微器将物像调到视场边缘，如图4.1.7（b）(或物像下移至与横叉丝相割)；(3)微转目镜筒，使物像与横叉丝相切，如图4.1.7（c）。重复(1)、(2)、(3)调节，直至旋动X轴测微器时，物像一侧始终与横叉丝相切移动为止。调好后，旋紧目镜的止动螺丝。 1.目镜接筒
3.锁紧螺钉
4.调焦手轮
6.测微鼓轮7.载物台
8.半反镜 9.物镜筒图4.1.6
测量显微镜光学系统
测量显微镜结构 图4.1.7
差丝方位调节过程5.测量(用X轴测微器)：(1)转动X轴测微器，使物像与竖叉丝相离，如图4.1.8（a）。(2)反向旋转X轴测微器，使物像靠拢竖直叉丝，直到物像的一侧与竖直叉丝相切为止，如图4.1.8（b），记录X轴测微器的读数X1。（3）沿同一方向转动X轴测微器，使物像越过竖直叉丝在另一侧与竖直叉丝相切，如图4.1.8（c），记录X轴测微器的读数X2。则被测长度(圆的直径)为d=图4.1.8
测量圆的直径6.注意：(1)测量时，中途(由图8（a）→（b）→（c）)不允许改变X轴测微器的转动方向，这是为了避免回程误差。在相同条件下，计量器具正反行程在同一点示值上被测量值之差的绝对值，叫回程误差。由于工艺的原因，测微螺栓(与X轴测微鼓轮相连)和螺母(与载物台相连)之间不是紧密配合的，如图4.1.9，当X轴测微器改变转动方向时，总有一段空转过程(即鼓轮空转而不拖动载物台)，在此过程中X轴测微器读数的改变不能反映物像与竖直叉丝的相对移动，因而导致回程误差。 图4.1.9
形成回程误差的原因 (2)X轴测微螺旋的螺距为1毫米，因此鼓轮分度为100，读数的有效数字与千分尺相同。使用前应核对一下当鼓轮示值为零时，主尺基准线是否恰好与某一毫米刻线对齐。若不齐，属于安装问题。使用中注意不要读错一毫米；更不要在主尺上反向读数，如将27毫米多读成32毫米多。7.综上所述，测量显微镜是用光学方法把待测物放大成像，以叉丝为准线，用测微螺旋带动待测物平移，读出欲测长度首末两端的绝对坐标值，(零点是任意的，与待测长度无关)求出其相对差值。这种测位移的道理与千分尺不同，同学们应仔细体会。二、钠汽灯钠汽灯(Sodium vapour lamp)又称钠光灯，是一种气体放电光源，发光物体是特种灯管内的钠蒸汽。钠光灯管串接一镇流器后由220V交流电源供电，通电约15分后，可发出波长为589nm和589.6nm 两种强黄光，通常取平均值589.3nm 作为实验用的单色光源的波长。钠光灯断电熄灭后，需冷却数分钟才能重新点燃，因而实验中途不要关闭。三、光学平板玻璃两块(用于形成空气劈尖)，牛顿环仪，待测薄纸一片。 【实验内容】 一、测薄片厚度将被测薄片夹在两个平板玻璃之间，置于测量显微镜载物台上，点燃钠光灯，调节增设?的45采光玻璃，从目镜中观察干涉条纹，条纹应平行于短边，若不平行则需要重新夹薄片或用镜头纸擦拭劈尖片的表面。由于总条纹数很大，直接记数比较困难，可以抽样测出条纹的密度，再算出N值。在调节好条纹的走向后，用测量显微镜测出条纹存在的总区间长度L，然后在两端及中部各测20对明暗条纹的宽度，记为l1、l2、l3，作为条纹密度的抽样测量数据。把数据X1、X2填入表4.1.1。表4.1.1
劈尖干涉数据l2l3 1X1X2| X1- X2| 二、测平凸透镜曲率半径 透镜已与光学平板玻璃安装在一起，称为牛顿环仪，有三个螺钉可以调节透镜凸面与平板玻璃接触点的位置，并使二者相对固定。测量前先在白光下观察干涉图样并把接触点调到中心，注意不要把螺钉拧的太紧而增加压力甚至损坏玻璃片。把牛顿环仪置于测量显微镜载物台上，观察干涉条纹的特征，调节显微镜，使在X方向行程内能观察到约40个暗环的两侧，且环心始终能沿横叉丝移动。测m=35、34，33，32，31暗环及n=10，9，8，7，6暗环的直径，把数据X1、X2（暗环直径两端点的坐标）记入表4.1.2。 三、数据处理 1.计算劈尖干涉条纹密度抽样测量数据的平均值l，除以20即得到条纹密度，再用条纹存在的总区间长度L除以条纹密度求出总条纹数N，由（4.1.4）式算出薄片厚度。2. 计算各暗环直径及直径的平方，m-n=35-10、34-9、33-8、32-7、31-6=25，计算dm2-dn2，取其平均值代入（4.1.7）式求出R。估算不确定度，表示实验结果。注：由（4.1.7）式可知，不论m和n是多大，只要差值m-n相同，理论上dm2-dn2的差值就应当相同，所以我们求出了各暗环直径及直径的平方，取m-n=35-10、34-9、33-8、32-7、31-6=25，得到一个直径的平方差dm2-dn2的测量列（表4.1.2中最下一行），这种处理数据的方法称为逐差法。表4.1.2
牛顿环干涉数据m X1
（mm）dm（mm）dm（mm）n X1
（mm）dn（mm）dn2（mm2）
平均值dm2-dn2（mm2） 中国触摸屏网（
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