超声波探伤培训资料
超声波探伤培训资料
超声波探伤是利用超声波在物质中的传播、反射和衰减等物理特性来发现缺陷的一种探伤方法。与射线探伤相比，超声波探伤具有灵敏度高、探测速度快、成本低、操作方便、探测厚度大、对人体和环境无害，特别对裂纹、未熔合等危险性缺陷探伤灵敏度高等优点。但也存在缺陷评定不直观、定性定量与操作者的水平和经验有关、存档困难等缺点。在探伤中，常与射线探伤配合使用，提高探伤结果的可靠性。超声波检测主要用于探测试件的内部缺陷。
1、超声波：频率大于20KHZ的声波。它是一种机械波。探伤中常用的超声波频率为0.5~10MHz，其中2~2.5MHz被推荐为焊缝探伤的公称频率。
机械振动：物体沿着直线或曲线在某一平衡位置附近作往复周期性的运动，称为机械振动。振幅A、周期T、频率f。 。
振动的传播过程称为波动。C=λ*f&
超声波具有以下几个特性：
（1）&&&&&&
束射特性。超声波波长短，声束指向性好，可以使超声能量向一定方向集中辐射。
（2）&&&&&&
反射特性。反射特性正是脉冲反射法的探伤基础。
（3）&&&&&&
传播特性。超声波传播距离远，可检测范围大。
（4）&&&&&&
波型转换特性。超声波在两个声速不同的异质界面上容易实现波型转换。&
2、波的类型：（1）纵波L：振动方向与传播方向一致。气、液、固体均可传播纵波。
（2）横波S：振动方向与传播方向垂直的波。只能在固体介质中传播。
（3）表面波R：沿介质表面传播的波。只能在固体表面传播。
（4）板波：在板厚与波长相当的薄板中传播的波。只能在固体介质中传播。
3、超声波的传播速度（固体介质中）
&E：弹性横量，ρ：密度，σ：泊松比，不同介质E、ρ不一样，
波速也不一样。
（2）在同一介质中，纵波、横波和表面波的声速各不相同&&CL＞CS＞CR
钢：CL=5900m/s， CS=3230m/s，CR=3007m/s
4、波的迭加、干涉、衍射
⑴ 波的迭加原理
当几列波在同一介质中传播时，如果在空间某处相遇，则相遇处质点的振动是各列波引起振动的合成，在任意时刻该质点的位移是各列波引起位移的矢量和。几列波相遇后仍保持自己原有的频率、波长、振动方向等特性并按原来的传播方向继续前进，好象在各自的途中没有遇到其它波一样，这就是波的迭加原理，又称波的独立性原理。
⑵ 波的干涉
两列频率相同，振动方向相同，位相相同或位相差恒定的波相遇时，介质中某些地方的振动互相加强，而另一些地方的振动互相减弱或完全抵消的现象叫做波的干涉现象。波的干涉是波动的重要特征，在超声波探伤中，由于波的干涉，使超声波源附近出现声压极大极小值。
⑶ 波的衍射（绕射）
波在传播过程中遇到与波长相当的障碍物时，能绕过障碍物边缘改变方向继续前进的现象，称为波的衍射或波的绕射。
波的绕射和障碍物尺寸Df及波长λ的相对大小有关。当Df&&λ时，波的绕射强，反射弱，缺陷回波很低，容易漏检。超声探伤灵敏度约为λ/2，这是一个重要原因。当Df&&λ时，反射强，绕射弱，声波几乎全反射。
波的绕射对探伤即有利又不利。由于波的绕射，使超声波产生晶粒绕射顺利地在介质中传播，这对探伤是有利的。但同时由于波的绕射，使一些小缺陷回波显著下降，以致造成漏检，这对探伤不利。
5、超声场的特征值
(1) 超声场：充满超声波的空间或超声波振动所波及的部分介质。
(2) 声阻抗Z：超声波中任一点的声压与该处质点振动速度之比。
(3) 声强I：单位时间内垂直通过单位面积的声能称为声强。（J/cm2&s或w/ cm2）。
&声强级：某处的声强I2与标准声强I1（I1=10-16瓦/厘米2）之比。
*当超声波探伤仪的垂直线性较好时，仪器示波屏上的波高（H）与声压（P）成正比。
7、超声波垂直入射到界面时的反射和透射
声压的反射率r和透射率t （单一平界面）
当Z1＞＞Z2（如钢/空气界面或固/空气界面）
（钢：Z=4.53&106g/cm2 s ,有机玻璃：Z=0.33&106g/cm2 s空气：Z=0.g/cm2
几乎全反射，无透射。
☆ 探伤中，探头和工件间如不施加耦合剂，则形成固（晶片）/气界面，超声波将无法进入工件。
(2) 当Z1=Z2时
几乎全透射，无反射。
☆ 若母材与填充金属结合面没有任何缺陷，便不会产生界面回波。
8、超声波斜入射到界面时的反射和折射
波型转换：超声波倾斜入射到界面时，除产生同种类型的反射与折射波外，还会产生不同类型的反射和折射波。这种现象称为波型转换。
有机玻璃中：CL1=2730m/s
&&&CL2=5900m/s
CS2=3230m/s
9、超声波的衰减
超声波的衰减：超声波在介质中传播时，随着距离的增加，超声波能量逐渐减弱的现象。
10、仪器、探头、试块
　超声波探伤设备一般由超声波探伤仪、探头和试块组成。
常用超声波探伤仪为A型脉冲反射式超声波探伤仪。
A型显示：一种波形显示。
脉冲波：周期性的发射不连续且频率不变的波。
反射式：通过接收反射回波信号。
在超声波探伤中，超声波的发射和接收是通过探头来实现的。
探头又称换能器，其核心部件是压电晶体，又称晶片。晶片的功能是把高频电脉冲转换为超声波，又可把超声波转换为高频电脉冲，实现电一声能量相互转换的能量转换器件。
压电晶片：发射和接收超声波。
压电效应：在交变拉压应力作用下产生交变电场或者在交变电场作用下产生伸缩变形。机械能转换为电能，电能转换成机械能。
按波型分：纵波探头、横波探头、表面波探头、板波探头。
按晶片数分：单晶探头、双晶探头。
a，直探头（纵波探头）
直探头用于发射和接收纵波。
☆& &&
&直探头主要用于探测与探测面平行的缺陷。
横波斜探头是利用横波探伤，主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷，如焊缝探伤等。
横波斜探头的标称方式常用两种：①一种是以横波折散角βs来标称。如βs=40&，45&，60&等；②另一种是以折射角的正切值（K=tgβs）来标称。K=1.0，1.5，2.0，2.5等。
c，双晶探头
探头型号：1、2.5B20Z&&； 2、5P6&6K3
试块：按一定用途设计制作的具有简单几何形状人工反射体的试样。
超声探伤中是以试块作为比较的依据，用试块作为调节仪器和定量缺陷的参考依据是超声探伤的一个特点。根据使用目的和要求的不同，通常将试块分成以下两大类：标准试块和对比试块。
a，标准试块：权威或法定机构制定的试块。如GB1规定CSK—ZB试块为焊缝超声波探伤用标准试块。主要用于测定斜探头的入射点、调整探测范围和扫描速度、测定仪器探头以及系统的性能等。
b，对比试块：对比试块又称参考试块，它是由各专业部门按某些具体探伤对象规定的试块。GB1规定，RB—1(适应8—25mm板厚)、RB—2(适应8～100mm板厚)和RB—3(适用8—150mm板厚)为焊缝探伤用对比试块。RB试块组主要用于绘制距离—波幅曲线、调整探测范围和扫描速度、确定探伤灵敏度和评定缺陷大小，它是焊缝评级判定的依据。
试块的作用：a. 确定探伤灵敏度；b. 测试仪器和探头的性能；
c. 调整扫描速度；&&d .评判缺陷的大小。
12、仪器和探头性能
(1) 仪器的性能
垂直线性、水平线性、动态范围等。
(2) 探头的性能
&&&入射点、K值、双峰、主声束偏离等。
(3) 仪器和探头的综合性能
分辨力、盲区、灵敏度余量等。
△ 仪器的性能
垂直线性：仪器示波屏上的波高与探头接收的信号成正比的程度。
垂直线性好坏影响缺陷的定量精度。
GB1规定，仪器的垂直线性误差D≤5%。
水平线性：仪器示波屏上时基线显示的水平刻度值与实际声程之间呈正比的程度。
GB1规定，仪器的水平线性误差≤1%。
水平线性的好坏影响缺陷的定位。
动态范围：仪器示波屏容纳信号大小的能力。（从100%某波高衰减到刚能识别的最小值所需的衰减量）。
ZBY230-84（JB/T）规定仪器的动态范围不小于26dB。
△探头的性能
斜探头入射点：主声束轴线与探测面的交点。
探头前沿长度：入射点至探头前沿的距离。
斜探头K值和折射角βs：
K值：横波折射角的正切值&&K=tgβs
图22&&入射点与K值测定
& & （CSK-IA试块）
探头主声束偏离：探头实际主声束与其理论几何中心轴线的偏离程度。
&用偏离角θ来表示。GB1规定，θ≤2°。
探头双峰：平行移动探头，同一反射体产生两个波峰的现象称为双峰。
探头主声束偏离与双峰，影响缺陷的定位和判断。
△仪器和探头的综合性能
灵敏度：发现最小缺陷的能力，发现的缺陷越小，灵敏度越高。常用灵敏度余量来衡量。
灵敏度余量：是指仪器最大输出时（增益、发射强度最大、衰减和抑制为0），使规定反射体回波达基准波高所需衰减的衰减总量。
盲区：指从探测面到能够发现缺陷的最小距离。盲区产生的原因：因为超声波在发射的时候,是一个高压脉冲,并且脉冲结束后,换能器会有一个比较长时间的余震,这些信号根据不同的换能器时间会有不同,从几百个uS到几个mS都有可能,因此在这个时间段内,声波的回波信号是没有办法跟发射信号区分的.因此,被测物体在这个范围内,回波和发射波区分不开,也就没有办法测距,也就形成了盲区。盲区内的缺陷一概不能发现。
分辨力：是指在示波屏上区分相邻两缺陷的能力。能区分相邻两缺陷的距离愈小，分辨力就愈高。
13、焊缝超声波探伤
▲ 对接焊缝超声波探伤
（1），探测条件的选择
a, 探测面修整： 表面粗糙度Ra≤6.3μm
修整宽度P≥2KT+50；P≥KT+50
b, 耦合剂的选择
耦合剂：在探头与工件表面之间施加的一层透声介质。
耦合剂作用：ⅰ、排除探头与工件表面之间的空气，使超声波能有效地传入。
ⅱ、减少摩擦。
&耦合剂应满足的要求：ⅰ、能润湿工件和探头表面， 流动性、粘度和附着力适当，不难清洗。
ⅱ、声阻抗高，透声性能好。
ⅲ、来源广，价格便宜。
ⅳ、对工件无腐蚀，对人体无害，不污染环境。
ⅴ、性能稳定，不易变质，能长期保存。
c，频率的选择
一般2.5～5.0MHZ。薄工件采用较高值，厚工件采用较低值。
d，K值选择
根据工件厚度来选择，薄工件采用大K值，避免近场区探伤，厚工件采用小K值，以缩短声程，减少衰减。
☆注意：K值常因工件中的声速变化和探头的磨损而产生变化，所以探伤前必须在试块上实测K值。
e，探测面的选择
根据板厚和缺陷的位向以及检验等级确定。
如纵向缺陷：ⅰ、单面双侧，一种K值。
ⅱ、一种或两种K值，两面双侧。
ⅲ、两种K值，两面双侧，外加K1.0，单面双侧串列式探测。
（2），扫描速度（时基线比例）的调节
声程法、水平法、深度法.
常用水平法和深度法
δ＜20mm时，——常用水平法。
δ＞20mm时，——常用深度法。
水平法：使示波屏水平刻度值直接显示反射体的水平投影距离。RB试块等。
深度法：使示波屏水平刻度值直接显示反射体的垂直深度。RB试块等。
(3)，距离一波幅曲线（DAC曲线）
描述某一确定反射体回波高度随距离变化的关系曲线称为距离—波幅曲线。
图25&&距离——波幅曲线示意图
距离一波幅曲线由定量线、判废线和评定线组成，评定线和定量线之间（包括评定线）称为Ⅰ区，定量线与判废线（包括定量线）称为Ⅱ区，判废线及其以上区域称为Ⅲ区。
两种形式：1、距离—dB曲线
2、距离—波高（%）曲线（面板曲线）
（4）， 扫查方式
a、锯齿形扫查。
b、前后扫查。
c、左右扫查。
d、转角扫查。
e、环绕扫查。
f、平行或斜平行扫查。
g、串列式扫查。
四种基本扫查方式主要用来确定缺陷的位置、方向、形状等情况。
（5）， 缺陷位置的确定
常用水平定位法、深度定位法。
▲ 水平定位法：假定仪器按水平1︰1调节扫描速度。
6）， 缺陷大小的测定
探伤中发现位于定量线或定量线以上的缺陷要测定缺陷波的幅度和指示长度。
①、缺陷波幅度的表示：& &SL +
&& &Ф3&40±(
②、缺陷波的指示长度测定：
指示长度：按规定的方法测定的缺陷长度称为缺陷的指示长度。
指示长度总是小于等于缺陷实际长度。
相对灵敏度测长法：以缺陷的最高回波为相对基准、沿缺陷的长度方向移动探头，降低一定的dB值来测定缺陷的长度。常用的是6dB法、端点6dB法。
ⅰ，6dB法（半波高度法）
由于波高降低6dB后正好为原来的一半，因此6dB法又称为半波高度法。
半波高度法做法：移动探头，找到缺陷的最大反射波（不能饱和），然后沿缺陷方向左右移动探头，当缺陷波高度降低一半时，探头中心线之间的距离就是缺陷的指示长度。
6dB法做法：
移动探头找到缺陷最大反射波后，调节衰减器，使缺陷波高降至基准波高。然后用衰减器将仪器灵敏度提高6dB，沿缺陷方向移动探头，当缺陷波高降至基准波高时，探头中心线之间的距离就是缺陷的指示长度。
★6dB法（半波高度法）适用于测长扫查过程中缺陷波只有一个高点的情况。
图31 半波高度法（6dB法）&
端点6dB法& &&
端点峰值法
ⅱ、端点6dB法（端点半波高度法）
当缺陷各部分反射波高有很大变化时，测长采用端点6dB法。
具体做法：当发现缺陷后，探头沿着缺陷方向左右移动，找到缺陷两端的最大反射波，分别以这两个端点反射波高为基准，继续向左、向右移动探头，当端点反射波高降低一半时（或6dB），探头中心线之间的距离即为缺陷的指示长度。
★适用于测长扫查过程中缺陷反射波有多个高点的情况。
b、端点峰值法
当缺陷反射波峰起伏变化，有多个高点时，以缺陷两端反射波极大值之间探头的移动长度来确定缺陷的指示长度。
端点峰值法测得的缺陷指示长度比端点6dB测得的指示长度要小一些。
★端点峰值法也只适用于测长扫查过程中缺陷反射波有多个高点的情况。
③、缺陷长度的计量
GB11345-89规定： i. 当相邻两缺陷间距小于8mm时，以两缺陷指示长度之和作为一个缺陷的指示长度（不含间距）。
ii. 缺陷指示长度小于10mm者，按5mm计。
（7），焊缝质量评级：缺陷的大小测定后，要根据缺陷的当量和指示长度结合有关标准的规定来评定焊缝的质量级别。
GB11345-89标准将焊缝质量分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。Ⅰ级质量最高，Ⅳ级质量最低。
① Ⅳ级焊缝
a. 反射波高位于Ⅲ区的缺陷者。
b. 反射波超过评定线，检验人员判为裂纹等危害性缺陷者。
c. 位于Ⅱ区的缺陷指示长度超过Ⅲ级者。
② Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ级焊缝
a. 位于Ⅰ区的非危害性缺陷评为Ⅰ级。
b. 位于Ⅱ区的缺陷按下表评定其级别。
表1&&GB11345-89标准，Ⅱ区缺陷级别评定
&&&检验等级
评定等级& & &
& 8～50& &
& & 8～300&
　　Ⅰ& & &
& 2T/3(最小12)& &
T/3(最小10，最大30)& &
& & T/3(最小10，最大20)
　　Ⅱ& & &
& 3T/4(最小12)& &
2T/3(最小12，最大50)& &
& & T/2(最小10，最大30)
　　Ⅲ& & &
& T(最小20)& &
3T/4(最小16，最大75)& &
& & 2T/3(最小12，最大50)
　　Ⅳ& & &
& 超过Ⅲ级者
（8），超声波探伤特点：
①、面积型缺陷检出率高，而体积型缺陷的检出率低。对裂纹、未熔合等危险性缺陷灵敏度高。
②、探测厚度大，几百毫米至几米。
③、适于各种试件，对接焊缝、角焊缝、板材、管材、棒材、锻件、复合材料等。
④、成本低、速度快、操作方便。
⑤、评定不直观、定性困难。
⑥、记录存档困难。
管材超声波探伤
管材横波检测技术基础
& 1. 实现纯横波检测条件
&& ① 产生纯横波
CL1—入射介质中纵波速度
CL2—管材中纵波速度
&& ② 横波到达内壁条件
& 2. 周向检测缺陷修正
一次波检测内壁缺陷
弧长AB＝mTtgβ
二次波检测外壁缺陷
&&&&&弧长AE＝2mTtgβ
式中：&－声程修正系数，&＝
m－跨距修正系数，m＝
& 3. 探头入射点与折射角测定
&& ⑴ 入射点测定可利用试块直角边测，
&& ⑵
折射角测定可利用圆柱试块靠近近表面Φ1.5横孔或外表面V形槽测试，但利用靠近表面横孔测试误差较大。
&& ⑶ 利用曲面内外璧槽测试。
&& 4. 推荐测定入射点和折射角方法
&& ⑴ 采用与工件曲率相同的横孔试块测试；
&& ⑵ 利用与工件曲率不同的横孔试块测试。
小直径薄壁管探伤&
一般指外径小于100mm的管材，大多为无缝钢管，对平行于管轴的径向缺陷，即管内纵缺陷：可用横波进行周向扫查检测。
对垂直于管轴的径向缺陷，即管内横向缺陷。用横波进行轴向扫查检测。
△&&&&
探伤前准备：① 清理被探管材表面的氧化皮，锈蚀、油污。
② 考虑管材与探头相对运动的轨迹，相邻探头轨迹间距离考虑声束复盖范围。
③ 为避免由于缺陷取向等原因产生声波反射呈现定向性而发生漏检，应从两个相反方向各探一次。
1. 接触法探伤
适用于手工探伤，特点：管径小，波束扩散，耦合不好。
要采取措施：① 有机玻璃斜楔磨成与管子外径曲率相近。
② 采用接触式聚焦探头。
⑴ 纵向缺陷探测
斜探头晶片一般用8&10，10&12，12&14，最长不大于25mm。
频率：2.5~5MHZ。
试块：检测管子纵向缺陷的对比试块应选取与被检钢管的规格相同，材质、热处理工艺和表面状况相同或相似的钢管制备，对比试块上不得有影响人工缺陷正常指示的自然缺陷。对比试块上人工缺陷为尖角槽，角度为60°，槽深度t分别为管壁厚度的5%（I级，0.2mm≤t&1mm），8%（II级，0.2mm≤t&2mm），10%（III级，0.2mm≤t&3mm），槽长均为40mm，尖角槽可加工在管内壁与外壁，且平行于管轴。
灵敏度：可直接在对比试样上将内壁人工尖角槽的回波高度调到荧光屏满刻度的80%，再移动探头，找出外壁人工尖角槽的最大回波，在荧光屏上标出，连接两点即为该探头的距离-波幅曲线，作为检测的基准灵敏度，在此基准灵敏度基础上一般提高6dB，作为扫查灵敏度。
探头扫查：保证管材100%扫查到。
①&&&&&&
探头不动，管旋转同时作轴向前进。
②&&&&&&
探头轴向前进，管转动。
③&&&&&&
管不动，探头作螺旋运动。
记录：缺陷回波幅≥基准波高灵敏度的缺陷，不合格。
⑵ 横向缺陷检测
斜探头晶片10&12、12&14最大不超过25mm。
频率2.5~5MHZ
试块：检测管子横向缺陷的对比试块应选取与被检钢管规格相同、材质、热处理工艺相同或相似的钢管，不得有影响人工缺陷显示的缺陷，人工缺陷为V形槽，角度为60°，长40mm，槽深度t分别为管壁厚度的5%（I级，最小为0.2mm，最大为1mm），8%（II级，最小为0.2mm，最大为2mm），10%（III级，最小为0.2mm，最大为3mm）。V形槽一般加工在管子外表面，当外径≥80mm，且壁厚≥10mm时，应同时在内、外表面加工V形槽。同一块试块内，外表面人工缺陷沿钢管轴向应有足够的间距，以使调节时内、外人工缺陷回波容易分辨。
①&&&&&&
只有外表面尖角槽。试块上人工尖角槽回波50%高以此作为基准灵敏度。
②&&&&&&
内外均有尖角槽，将内表面槽波高调至荧光屏80%，然后再将外表面槽的反射回波幅度点标在荧光屏上作距幅曲线。
检测灵敏度一般比上述基准灵敏度高6dB。
扫查探测：
探头沿管轴线按螺旋线前进扫查。
缺陷波高≥基准灵敏度波高的缺陷不合格。
2. 水浸探伤
△&&&&
采用水浸纵波聚焦探头，超声纵波在与管轴线垂直的平面内斜入射到管子的管壁
中，当入射角α=αI～αII范围内时在管壁中产生纯横波。
⑴&&&&
探测参数选择：
实际探伤时，使纵波离开管轴中心一段距离（这段距离称偏心距X）垂直入射到管壁中达到纵波斜入射到壁中的效果。
①&&&&&&
满足纯横波探测到内壁条件
&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&
② 水层厚度H即为探头晶片离开管壁的距离
H大于钢管中横波全程1/2。可使水层波的第二次反射波位于钢管内外壁反射波之后。
设横波全声程为S。
这样S2次水层波位于SF外后，辨于观察和判别缺陷。
③焦距选择
△&&&&
焦点落在与声束轴线垂直的管子中心线上。此时进入管壁中的横波声束基本成平行声束。使声束边缘与声束中心入射到管壁的入射角基本相等，减少声束发散。
式中：R——管子外半径，X——偏心距。
2．探测条件：
探头：线聚焦或点聚焦探头，2.5～5MHZ。聚焦探头的声透镜曲率半径r’与焦距F的关系为：
F— —水中焦距
CL1— —声透镜中纵波声速
CL2— —水中焦距
声耦合：水中加活性剂和防锈剂。
扫查方式：声束沿管壁作螺旋线扫查。可使探头不动，钢管作螺旋运动，或探头沿管子转动，或探头沿管轴转动，管子作直线前进等方式达到扫查目的。
⑶ 灵敏度与评定
灵敏度调整时，一面用适当速度转动管子，一面将探头慢慢偏心，使对比试样管内、外表面人工缺陷所产生的回波幅度均达到荧光屏满刻度的50%，以此作为基准灵敏度如不能达到此要求，也可在内、外槽设立不同波高的控制基准，作为报警电平。扫查灵敏度比基准灵敏度高6dB，当缺陷回波≥基准灵敏度波高时的缺陷，就判为不合格。
小口径管子浸探伤步骤：
① 选合适聚集探头固定在调整架上
② 按 调整水层距离（X偏心距）
③ 聚集探头对准管轴。
④ 放入有内、外壁标准人工槽试块，使内壁槽第一次反射波调在3~4格间，第二次反射波调在6~8格间。
旋转人工试样，缓慢调节聚焦探头偏心距X，使第一次和第二次水层波出现，并使第二次水层波调在外壁槽反射波后，即第二次反射波调在8~9格间。
按JB/T要求调节灵敏度探测比基准灵敏度高6dB。评定按基准灵敏度，发现缺陷波高≥基准灵敏度波高时不合格。
大直径薄壁管探伤：
⑴ 探测方式
&&&&&&&&&&&&&&&&&&&
①纵波垂直探伤
双晶直探头
检测缺陷：与管轴平行缺陷（周向，即平行外表面）。当缺陷F较小时，F波与底波B同时存在，当缺陷F较大时，B可能消失。
Δ 可用半波法测缺陷面积。
② 横波周向探伤
单、双斜探头探测
探测缺陷：与管轴平行的径向缺陷。
Δ探测时应从正反两个方向检测。用双斜探头探测时，可能出现同一缺陷有二个回波，要注意区分。
③ 横波轴向探伤：
单斜或双晶斜探头
用双晶在声束交区复盖管子内外壁时，内、外壁缺陷灵敏度基本一致。
检测缺陷：与轴线垂直的径向缺陷。
④水浸聚焦探伤
一般用线聚焦探头，焦点落管子中心线上，使声束在管壁内多次反射声束宽基本一致，内外壁检测缺陷基本相同。
7.5.5 厚壁管探伤
厚壁管探伤应注意以下几点：
① 考虑声程修正和跨距修正，其方法与横波外园探测筒体纵向缺陷方法。
当探头磨成和钢管外园的弧面曲率一致时，声束不仅发散，而且入射点改变，入射角也改变。此时入射点和折射角应在专用试块上测定。
1. 厚壁管探伤适用条件：
①管材横波一次扫查到内壁条件：
t——管壁厚&&&&&
D——管外径。
②利管中折射纵波在外壁产生61°反射产生较强的变型反射横波，则检测管壁厚t可扩大为：
& 但变型横波灵敏度较低，一般不宜采用。
2. 管子探伤特点：
&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&
&&&&&&&&垂直于管轴
① 探测方向声波入射方向二个：
&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&
&&&&&&&&与管轴成一定交角
② 管壁内声束在管内外壁反射时引起声能扩散。
③ 管子壁厚折射横波在内壁上的入射角随管子壁厚改变而改变，并非像平板固定不变。
④ 进行纯横波探伤条件：
入射角α≥Sin-1
CL1——第一介质纵波声速。
CL2——管材中纵波声速。
⑤ 横波入射到内壁条件
折射角βS≤Sin-1
⑥ 能够对整个管壁进行纯横波探伤条件：
钢管和壁厚和外径必须：
&& （r=R-t ，D=2R）
&&&&&&&&&&
（t——厚，D——外径）。
CL2=5850，CS2=3230
则可得 ＜0.226，即一般在
＜0.226时，可纯横波探到内壁，故一般标准规定适用于内外径之比大于或等于80%，如用壁厚外半径R和壁厚内径D0表示，则需满足：
＜0.40&&&&&&&&&&&&&
7.5.6 管材自动检测
& 1. 自动检测设备系统：多通道超声检测仪与机械传动系统
& 2. 探头架结构：探头旋转式或固定探头式
& 3. 主要检测参数
&& ⑴
水层距离H≥XS（钢管中一次波声程）
&& ⑵ 偏心距X＝0.251R～0.458r
&&&&&&&&&&&&
式中：R－钢管外半径
&&&&&&&&&&&
r－钢管内半径
&&&&&&&&&&&
－平均偏心距
&& ⑶ 焦距 F＝H＋
&& ⑷ 声透镜曲率半径r＝
式中：C1－声透镜声速m/s
&&&&&&&&&&&
C2－水中声速m/s
&& ⑸ 扫查速度V＝nt
式中：n－探头与管子的相对转速r/min
&&&&&&&&&&&
t－扫查轨迹螺旋线的螺距
&& ⑹ 仪器重复频率f≥
式中：n－管子与探头的相对转速r/min
&&&&&&&&&&&
R－管子外半径mm
&&&&&&&&&&&
L－管子外壁处聚焦声束的宽度mm
& 4. 对仪器、机械设备要求
&& ⑴ 对仪器的要求
多通道探伤仪，数字式探伤仪
各通道保持一致性能
各通道轮流工作，
相邻探头声束互不干扰，
耦合不良报警和检测自动报警
较好的抗干扰能力
&& ⑵ 对设备要求
探头架与管材运动保持同心度；
探头固定装置牢固不松动；
准确打印缺陷标记；
探头对管材作螺旋线式扫查，速度连续可调；
有良好的声耦合
& 锻件与铸件超声波探伤
锻件超声波探伤
探伤方法概述
轴类锻件探伤
①&&&&&&
纵波（直探头）可在轴的园周方向和轴端部探测。
当轴很长时在轴端部方向一般不查只在轴园周方向查。
带中心孔锻件只在轴园周方向探。
②&&&&&&
横波斜探头：
一般周向不查。
周向检测应顺、逆时针二个方向探。△但只能探外表面附近部分内部探测不到。
轴向检测应正、反二个方向检测可探测锻件全体，且至少探测园周方向180°范围。
具有平行平面和园盘形饼类锻件。
具有平行平面锻件和饼型锻件采用纵波在两个平行面探测，当厚度较大时也可在锻件厚度方向侧面探测。
碗型锻件：采用纵波检验，探头可置于碗形锻件内部或外部探测。
筒型锻件。
单探头探测时，探头置于筒形锻件外园面、内园面和端部探测。
双晶直探头探测时，探头置于筒形锻件外园面和内园面探测。
在筒形锻件很长时一般不采用，在端部探测。
横波：轴向探测，一般正、反两方向各探测。
周向探测，逆、顺时针各探测一次。
但对T/D&0.226锻件不适于用周向探测。
8.1.3 探测条件选择
探头选择：
频率：双晶直探头为5MHZ，单晶直探头为2MHZ～5MHZ，对晶粒粗大锻件可适当降低频率，可用1～2.5MHZ。
晶片尺寸：Ф14～25mm，常用Ф20mm。
双晶直探头——检测近表面缺陷。探头晶片面积不小于150mm2。
斜探头——晶片面积为140mm2～400mm2，频率为2.5MHZ。探测与表面垂直缺陷宜用K1（45°），必要时用60°～70°相当于K2。
表面要求与耦合剂：
表面要求：检测面表面要求平整，最好经机加工，表面粗糙度Ra应小于6.3μm，工件表面应去除氧化皮、污物等附着物。
耦合剂：机油、浆糊、甘油等。
检测面选择应符合JB/T4730标准的要求。
扫查方式：
—互相垂直两个方向
双晶直探头
斜探头：周向、轴向各正、反二个方向。
扫查复盖面积探头直径尺寸15%。
扫查速度≤150mm/s。
材质衰减测定
在锻件上选定三处有代表性部位（完好部位）测出第一次底波B1和第二次底波B2的波高分界值。
这里X≥3N，为单程声程（厚度或直径）
这里X&3N，且满足
① 纵波直探头：JB/T标准规定CSⅠ型标准试块。
② 双晶直探头试块：JB/T标准规定CSⅡ型标准试块。
适用距离为深度小于45mm。
③ 探测曲面工件时，应使用曲面试块，曲面试块为JB/T标准规定的CSⅢ型试块曲率R与工件曲率关系为：
JB/T规定试块曲率半径R为工件曲率半径的0.9～1.5倍。
GB/T6420-91标准规定工件曲率半径为试块曲率半径R的0.7～1.1倍。
7.探伤时机：
热处理后，槽、孔、台阶等机加工前。
如热处理前检验（对锻件形状不合适热处理后检验的），则在热处理后仍要再进行检测。
扫描速度和灵敏度调节
1. 扫描线比例调节
纵波直探头：
①&&&&
试块上调节：要求试块材质和工件相同或相近。
扫描比例要求第一次工件底波在水平满刻度80%左右。
②&&&&
利用工件调节：
可利用工件上二个已知厚度值部位调节。
如某实心轴直径400mm，轴劲部位直径为200mm，则分别将轴身和轴劲部位底波调在4格和8格，每格水平距离代表50mm。
Δ也可用二次底波B1和B2调。工件只有一个厚度，如某饼型锻件厚300mm，直径很大，可利用始波T和B1调（但不太准）因T对零，B1对某刻度，如8格，此时忽略了探头中引起混响和保护膜引起的延迟，严格说调好后始波不在零位，而是略后左移。
双晶直探头：
可在JB/T双晶直探头标准试块上调节，使始波对零，深45mm平底孔在第8格以内。
横波斜探头：
以横孔试块按深度比例调节。
2. 探伤灵敏度
JB/T：不低于最大检测距离Ф2mm平底孔当量直径。
GB/T6402-91标准1级Ф2mm平底孔当量直径。
GB/T6402-91标准2级Ф4mm平底孔当量直径。
GB/T6402-91标准3级Ф8mm平底孔当量直径。
GB/T6402-91标准4级Ф16mm平底孔当量直径。
具体根据检验要求定。
调节方法：
⑴底波调节法：
——实心园柱体，上、下底面平行（锻件）
（空心园锻件）
要求：X≥3N “+”外园径向探测内孔凸柱面反射，“-”内孔径向探测外园
凹柱面反射。实际调节时，将探头置于工件表面，使底面回波调至基准波高，再提高按上述相应公式计算得到△dB数，即调好了检测灵敏度。
⑵ 试块调节法：
用于X&3N。
Δ要求CSⅠ试块上Φ2平底孔声程等于或大于锻件厚度。
将试块平底孔回波调至基准高（满刻度40%～80%）。
考虑：表面耦合补偿，材质衰减差异补偿。
Δ当试块平底孔声程小于工件时要进行计算求得声程引起的回波高差进行修正得到检测灵敏度。
双晶直探头灵敏度：根据工件选择相应孔径的平底孔试块，依次测试直径相同，距离不同的平底孔（至少三个）回波，使其中最高回波幅度达满刻度80%，不改变仪器参数，在此条件下测出其它平底孔回波最高点，将其标在荧光屏上，连接些点成一条曲线，即为双晶直探头的平底孔距离-波幅曲线，以此为检测灵敏度。
缺陷位置和大小的测定
1. 缺陷位置测定
根据缺陷波在水平扫描线上位置和扫描速度（或底波位置）确定。
2. 缺陷大小的测定
⑴缺陷当量测定：
① 当量试块直接比较法
将缺陷回波高度与某平底孔试块上声程相同的某直径平底孔回波比较，得出平底孔的当量直径值。
Δ 该法要考虑：表面补偿，试块和工件材质差异，要制造大量不同深度，不同直径试块很困难。
② 当量计算法：
适合于声程X&3N远场的计算公式为：
对平行平面工件及实心园柱体，缺陷当量。
空心园柱体工件缺陷当量：
“＋”外向内探测，“－”内向外探测。
③当量曲线法：
a.面板曲线法
将不同直径，不同声程Φ平底孔波高绘制曲线放在面板上，当缺陷波高与某平底孔回波高一致时，即为该缺陷当量。
b.相对曲线&& dB—当量缺陷
利用衰减器，将某孔（平底孔）作出距离—波幅曲线，探伤时将所有缺陷波均调到基准波。然后根据衰减器得出读数，再在dB—当量曲线上查出缺陷当量。
⑵ 缺陷长度测量法
6dB（半波高）测长法，对平板工件、探头移动长度即为缺陷指示长度，对园形锻件，进行周向探测时，探头移动长度比缺陷指示长度大，要进行修正。
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