单片机学习有什么比较好的教材推荐？ - 知乎144被浏览<strong class="NumberBoard-itemValue" title="5分享邀请回答8添加评论分享收藏感谢收起123 条评论分享收藏感谢收起单片机实用教程（第2版）
单片机实用教程（第2版）
&&&&《单片机实用教程》第2版是一部紧跟时代脚步的单片机教材。它既包括了单片机基础知识，又涵盖了从MCU发展到SoC阶段的技术演化。本书共10章。前4章和第6章全面系统地讲解了MCS51系列单片机的硬件组成、运作原理、指令集、软硬件应用技术以及系统设计等基础知识。第5和第7两章分别介绍了8位单片机发展过程中两个不同高度的代表机型――8XC552和AT89C51。第5章重点阐述了CHMOS单片机的特点、新增硬件资源的组成原理和应用技巧。第7章扼要地介绍了闪存型单片机的情况。这一章实际上是由MCU向SoC过渡的一章。最后3章以C8051F这样一个SoC系列为代表，深入透彻地讲述了C8051F的内部硬件资源、数字与模拟涉外部件的原理与应用。这是一个新的高度。本书取材先进、典型、完整；叙述条理清晰，逻辑性强，语言精练；例题和习题丰富，实用性和可读性强。本书以高等院校计算机及其它有关专业师生及从事微机控制的广大科技人员为读者对象。
第1章&MCS51硬件结构1
1.2&MCS51系列1
1.3&内部结构2
1.3.1&专用寄存器2
1.3.2&端口结构及运行5
1.3.3&存储器组织9
1.3.4&CPU定时11
1.3.5&片外存储器的存取13
1.3.6&复位电路15
1.3.7&片内时钟振荡器16
1.4&定时/计数器17
1.4.1&定时器0和定时器118
1.4.2&定时器220
1.5&串行口22
1.5.1&运行方式22
1.5.2&串行口控制寄存器23
1.5.3&多机通信24
1.5.4&波特率24
1.6&中断系统26
1.6.1&中断源26
1.6.2&中断允许和优先级寄存器27
1.6.3&中断处理过程29
1.6.4&外部中断的触发方式30
1.6.5&中断响应时间30
1.7&引脚功能31
思考题与练习题32
第2章&指令系统34
2.1&寻址方式34
2.1.1&寄存器寻址34
2.1.2&直接寻址34
2.1.3&寄存器间接寻址34
2.1.4&立即寻址35
2.1.5&基址寄存器加变址寄存器间接寻址
2.2&指令分类35
2.3&数据传送指令35
2.3.1&单向数据传送指令35
2.3.2&数据交换指令41
2.4&算术指令41
2.4.1&加法类指令42
2.4.2&减法类指令44
2.4.3&乘除法指令45
2.5&逻辑指令45
2.5.1&单操作数逻辑运算指令45
2.5.2&双操作数逻辑运算指令47
2.6&控制跳转操作指令49
2.6.1&子程序调用和返回指令50
2.6.2&无条件跳转指令50
2.6.3&条件跳转指令52
2.6.4&比较不等则跳转指令53
2.6.5&循环控制及其它指令54
思考题与练习题55
第3章&程序设计示范56
3.1&通用程序56
3.1.1&数制转换子程序56
3.1.2&多倍精度运算57
3.1.3&查表程序57
3.1.4&分支程序59
3.1.5&堆栈操作程序61
3.1.6&代码队列参数传递程序64
3.2&硬件相关程序65
3.2.1&控制信号的软件定时65
3.2.2&串行口和定时器的方式设定65
3.2.3&简单的串行I/O驱动程序66
3.2.4&串行口字符串的传送66
3.2.5&特别情况的辨识与处理67
3.2.6&定时器中断示例68
3.2.7&定时器溢出和中断的同步69
3.2.8&定时器瞬时值的动态读出70
3.2.9&程序的单步运行70
3.2.10&中断优先级别的扩展71
3.2.11&程序存储器空白区的防范措施71
3.2.12&多机通信程序72
3.3&布尔处理程序75
思考题与练习题76
第4章&系统扩展79
4.1&存储器扩展79
4.1.1&程序存储器的扩展79
4.1.2&数据存储器的扩展81
4.1.3&程序/数据存储器的扩展81
4.2&片外数据存储器和I/O扩展84
4.2.1&8155的内部结构与引脚功能84
4.2.2&8155的I/O部分85
4.2.3&8155的命令/状态寄存器86
4.2.4&8155片内定时器88
4.2.5&的连接89
4.3&多中断源的安排91
4.4&8031最小用户系统92
4.5&I/O口扩展92
4.5.1&8255A的结构和功能92
4.5.2&8255A的运行方式94
4.5.3&8031AH与8255A的连接98
4.5.4&利用TTL芯片扩展I/O口99
4.5.5&串行口在I/O扩展中的应用100
思考题与练习题102
第5章&MCS51中的CHMOS器件104
5.1&CMOS电路的演化104
5.2&CMOS和CHMOS电路的特点104
5.2.1&逻辑电平与接口问题104
5.2.2&抗干扰能力105
5.2.3&功耗106
5.3&80C51BH概述107
5.3.1&低功耗运行方式107
5.3.2&与HMOS器件的互换性109
5.3.3&配用CHMOS&&EPROM111
5.4&8XC552概要112
5.4.1&概述112
5.4.2&内部结构113
5.4.3&引脚配置及封装116
5.5&8XC552主要部件119
5.5.1&定时器T2119
5.5.2&定时器T3――监视定时器130
5.5.3&脉冲宽度调制输出132
5.5.4&A/D转换器133
5.5.5&I/O端口结构136
5.5.6&中断系统137
5.5.7&低功耗运行方式140
思考题与练习题141
第6章&接口技术143
6.1&与键盘接口143
6.1.1&独立按键接口143
6.1.2&矩阵式键盘接口144
6.2&与BCD码拨盘接口147
6.3&与显示器接口149
6.3.1&发光二极管显示器149
6.3.2&液晶显示器154
6.4&与微型打印机接口159
6.4.1&TPμP系列微型打印机159
6.4.2&单片机直接与打印机接口160
6.5&与D/A和A/D转换器接口161
6.5.1&与D/A转换器接口161
&&&&（第1版）《单片机实用教程》（简称《教程》）是《单片微型计算机大学读本》（简称《读本》）的姊妹篇，两书各具特色。《教程》理论讲解适中，而实用性突出，可供非计算机专业本科及计算机专业专科学生作教材使用，也可作相应科技人员的入门读物；《读本》原理与实用并重，除全面讲述了单片机基本知识外，还详尽地介绍了某些新型单片机组成及应用技巧，主要以计算机和自动化等专业本科生及从事微机控制的广大科技人员为读者对象。
&&&&《教程》共分7章。前4章全面系统地讲解了MCS51系列单片机的组成原理，例示了其软、硬件应用技术。这是读者掌握并进而应用单片机的基础。第6章主要讨论单片机与各种常见外围设备的接口技术，引导读者向应用系统攀升一步。第5和第7两章重点阐述当前功能最强的8位单片机8XC552以及颇受广大用户欢迎的闪速存储器型微控制器AT89C51&的硬件资源和应用技巧，旨在丰富读者的单片机知识，增强其实践手段。
&&&&《单片微型计算机大学读本》发行后，一些读者函询过题库中某些问题的答案。以此为启示，本书附录对各章思考题与练习题中历次考试学生颇感为难的问题给出了详细解答。这对开拓读者的思路，使他们深入消化本书的内容方面将不无裨益。这也算是本书的一个小小的特色吧。
&&&&本教程由李勋教授主编，李新民教授主审。参加本书编写的尚有刘源老师（第4章和第7章）、任大同老师（第2章和附录），其余各章均由李勋教授编写。
&&&&虽然笔者长期从事单片机技术开发和教学工作，积累了丰富的实践经验，先后出版过多种专著和教材，对《教程》尽管呕心写作，但也难免有疏漏之处，愿意看到各界读者对本书的意见和建议。
作者E-mail：motian&@&public.tpt.tj.cn
作者于天津纺织工学院
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单片机软件测试 是怎么干的 ，有什么推荐工具 或者 书籍么
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单片机（mcu）软件测试
在MCU上,常用的测试步骤如下:
1&架构平行移植(跨平台).重建.修复后的,架构测试.
2&专用硬件测试程序的,硬件测试.
3&模块移植.修复.虚拟.填充后的,模块测试.(包括的内容最多,最啰唆)
4&数据结构重建后的,动静态数据测试.(工业级编程,最繁杂的过程)
5&程序结构完成后的,软时序测试.(主要测试软件实时性,包括各模块之间的协调性及资源冲突,
工业级编程的重点)
6&程序及系统稳定性测试.(最残酷的环境模拟测试包括EMC.EMI)
7&软件整体性能评估.
8&软硬件配合性能评估.
9&a版本完成后的,整体功能测试.
10&客户意见.
不太详细,感觉一下说不完,这是一个很大的话题,跟项目开发过程关系密切.
各级测试工作并非一次性完成,重复性大,3.4.5是编滩馐灾氐?第6项是工程测试重点.具体测试
方法,请参阅软件工程的测试方法.
分功能性测试和可靠性测试！
测试前先做软件结构的评估！
测试时，分功能性测试和可靠性测试！
我们还做代码冗余度测试！要求代码尽量简练！
PC上那一套不适合MCU，那个好象没有EMC/EMI的测试把！
这才是MCU测试的精华所在！?
正在考虑如何实现软件功能的自动测试
初步想法: 在软件内部嵌入测试模块,PC通过串口输入测试命令.测试模块将其转换成相应的输
入: 如键盘输入,串口输入,信号输入等,以此驱动程序运转.同时监测程序的反应(即输出): 显
示,打印,控制等. 并发送结果给PC.在PC软件上,根据待测设备实际运行情况,预先设置好测试序
列,并设置运行正常时的输出.这样,即可由PC自动判定测试结果.
设想情形下,随着程序的开发进程,测试序列也不断增长,直至可以完成全部功能的自动测试.这样,
即使程序重构多次,或者多次修改,也可以随时测试,不必耗费大量的人工和时间.
同样思路,也可以实现单元测试.
PC上那一套……，那个好象缺EMC/EMI的测试
EMC/EMI的测试是硬件测试
程序的测试，是个好话题
我的观点；不属于所长的大型MCU程序范围
对于大部分的MCU系统来说，最终给用户提供的不是软件本身，而是一个实物化的产品。
纯粹的软件测试大概应属于软件工程的领域，而对于MCU应用系统来说，应该是介于软件行业和电
子行业之间的东西。实际上，MCU应用系统都表现为一种电子产品的形式。它最终可能都归到电子
类行业标准的认证和测试上。和纯粹的软件行业的软件测试差别可能很大。
但是就MCU程序本身的测试，我认为基本上就是以功能测试为主，应该属于黑盒测试吧。
至于程序内部结构等方面的测试，可能没有太大必要，估计很多电子企业也没有这样做。
程序内部测试，让程序在内部自己测试，然后加上对测试程序的控制
是不是可以说“自适应”阿
关系程序测试，我想是不是该先分类一下。
我公司对程序的测试过程，基本：
1.外部环境模拟测试，这主要对产品而言，与程序相关很小，就不提。
2.从产品的角度来说，通常是请非程序设计人员进行重复功能测试，找到设计中的缺陷。因为从概率的角度出发，所以比较贴近用户使用的过程。对程序来说，差不多是最后的程序测试关口了。
3.在进行到产品测试前，一般都要内测，也叫功能测试。由自己或专业的测试人员进行，这时候是大量BUG出现的时候。
4.自测。主要对程序结构的测试，重大的结构问题基本集中在这时候解决。
对1,2,3，这是大家都熟悉的，一般公司都会安排。所以，俺想最集中要解决的是4，怎么去自测才规范。
以前听过深圳旋极公司关于程序测试的一些课程，可惜都是针对PC上的大型软件。他们卖专门用来测试的软件，按照一系列的测试标准和手段，把响应程序嵌入到程序中，最后根据结果和一些相关算法理论得出分析结果。不知MCU上如何使测试标准化一些？用什么手段去测试？
关于EMC,及外部环境测试
这两个测试正是包含在我讲的第6点中,其实我讲的测试方法也只是个人的工作习惯所穿叉顺带的
具体实现方法每个人实现的差异是很大的.
我把编程测试工作(自测或内测)放在编程过程中来做,主要的目的是有一个保证程序随时可用的原则.
这里只是讲程序的测试问题
其实程序中还有一道测试程序,那就是生产测试程序.在生产流程中QC环节,主要用来自动测试硬件的全部功能,判断PCB.元器件.生产工艺对本板卡造成的不良影响,功能实现是否完美.还要对产品老化度身定制.
你讲的我们叫智能测试架.就是为了取代价格昂贵的ICT.
第4.5点,对于程序员是非常重要的,这里就要涉及到手段问题,这正是软件测试工作的精华所在,每个经验丰富的人都有自己总结的方法,不知道有没有人肯拿出来交流?不要只等着收麦子,好不好呢?
看来对于测试工作没几个重视的,所长能看清第4点的重要性,已属难能可贵.正是因为程序结构的要求.测试的复杂度及工业级编程等综合因素,我花了多年时间,把MCU上使用的数据形态(权且这样称呼),总结成MCU特定的数据结构的原因,跟.NET中的封装有些类似.这种MCU的特定的数据结构跟程序结构及算法实现关系更大.所以我为什么说数据结构比程序结构更加精妙,希望能够理解.
主要是考虑到既然可以在PC上实现自动测试,那么在MCU上也可以.只是实现方法有所不同而已.而对于底层驱动的测试和硬件的测试(QC)不在我讲的范围.
第四条 对程序员来说是个关键
4.自测。主要对程序结构的测试，重大的结构问题基本集中在这时候解决。
自测可能更多的是对程序员的自侓要求
自测阶段，最好有个标准和规范。在外部监督下实行，不然靠程序员的自侓，好象太那个点
MCU才是个人主义放飞的地方.
只会编程,不会测试永远成不了大器.
使用了消息驱动，所以测试模块很方便的。
关于测试，可以
1.单独编写一个小程序，在特定时间间隔中产生突发的大量等待，检测系统程度对突发事件的容忍程度。
2.使用消息结构，基本上可以不用钩子函数来检测内部特性。完全可以在不影响程序结构的条件下，按照设定的测试时间和顺序用消息向任务模块发送消息，来控制程序实现相应功能。
3.在俺的结构中，检测每个模块的使用率是很方便的。可以通过串口，将模块的使用情况上传到PC上进行分析和统计。
钩子,就是一个动态的消息驱动加数据捕捉
可以在PC上看到所有的RAM,可以改变所有的RAM,及各控制寄存器,可以模拟消息驱动,观察模块的实时动作.分析程序中有各种算法,可以跟踪分析RAM的实时变化.加上外部环境变量的配合(智能测试架可动态模拟各种环境变化,同一PC软件驱动),软件测试工作就变得精确和有效.
钩子,并不需要是串行口,可以是sio,spi,按键,或可以空闲激活的所有口线.
当然有串口可用是最好不过的了.
钩子函数,本身就是程序的一部分,并不会影响程序的结构.在重建程序架构之初,钩子就做为一个
任务,被内嵌和定义了.钩子也可以自己发布消息,但太死板.
我最近,正想用ARM7重新设计一个智能海量测试分析系统,用以应付日益复杂的测试及各种内部.
外部动态数据分析工作.
做测试就是个悲剧 &产品出了问题就是你的责任 &吃力不讨好 &工资也不高 &天天加班 & ...
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在网上&找的&说的狠概括，类似&资料&也不多，不知道除了单步调试&还有啥&工具方法，看了一些测试资料，云里雾里，特此求教坛友
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第1章　测试驱动开发
　1.1　为什么我们需要TDD
　1.2　什么是测试驱动开发
　1.3　TDD的机理
　1.4　TDD的微循环
　1.5　TDD的好处
　1.6　对于嵌入式开发的益处
第一部分　开　　始
第2章　测试驱动开发的工具和约定
　2.1　什么是自动化单元测试框架
　2.2　Unity：一个全部用C实现的自动化测试框架
　2.3　CppUTest：一个用C++实现的自动化单元测试框架
　2.4　单元测试也会崩溃
　2.5　“四阶段”模式
　2.6　我们到哪里了
第3章　开始一个C语言模块
　3.1　具有可测性的C模块的那些元素
　3.2　LED驱动都做些什么
　3.3　写一个测试列表
　3.4　写第一个测试
　3.5　先测试驱动接口再测试驱动内部实现
　3.6　增量式前进
　3.7　测试驱动开发者的状态机
　3.8　测试要做到FIRST
　3.9　我们到哪里了
第4章　一路测试直到完成
　4.1　从简单入手“生长”出解决方案
　4.2　保持代码整洁——边做边重构
　4.3　重复直到完成
　4.4　声明完成之前先向回走一步
　4.5　我们到哪里了
第5章&　嵌入式系统TDD策略
　5.1　目标硬件的瓶颈
　5.2　双目标开发的好处
　5.3　双目标测试的风险
　5.4　嵌入式的TDD循环
　5.5　双目标的不兼容性
　5.6　和硬件一起测试
　5.7　欲速则不达
　5.8　我们到哪里了
第6章　是的，但是……
　6.1　我们没那个时间
　6.2　为什么不在写了代码之后再写测试
　6.3　测试也需要维护
　6.4　单元测试不能发现所有的bug
　6.5　我们的构建时间太长
　6.6　我们有现存的代码
　6.7　我们的内存有约束
　6.8　我们不得不和硬件交互
　6.9　为什么要用C++的测试框架来测试C
　6.10　我们到哪里了
第二部分　测试有合作者的模块
第7章　测试替身
　7.1　合作者
　7.2　脱离依赖关系
　7.3　何时使用测试替身
　7.4　用C来仿冒，下一步
　7.5　我们到哪里了
第8章　监视产品代码
　8.1　灯光调度测试列表
　8.2　对于硬件和操作系统的依赖
　8.3　链接时代换
　8.4　监视被测试代码
　8.5　控制时钟
　8.6　先0后
　8.7　处理多个的情况
　8.8　我们到哪里了
第9章　运行时绑定的测试替身
　9.1　测试随机性
　9.2　冒仿函数指针
　9.3　外科手术般地插入间谍
　9.4　用间谍来校验输出
　9.5　我们到哪里了
第10章　仿制对象
　10.1　闪存驱动程序
　10.2　MockIO
　10.3　测试驱动开发驱动程序
　10.4　模拟设备超时
　10.5　这值得吗
　10.6　用CppUMock来仿制
　10.7　生成仿制对象
　10.8　我们到哪里了
第三部分　设计与持续改进
第11章　SOLID、灵活并可测试的设计
　11.1　SOLID设计原则
　11.2　C语言中的SOLID模型
　11.3　演进的需求和有问题的设计
　11.4　用动态接口来改进设计
　11.5　更灵活的基于类型的动态接口
　11.6　做多少设计才是足够的
　11.7　我们到哪里了
第12章　重构
　12.1　软件的两个价值
　12.2　三项关键技能
　12.3　代码中的坏味道以及如何改进它们
　12.4　转化代码
　12.5　那性能和大小怎么办
　12.6　我们到哪里了
第13章　为遗留代码加测试
　13.1　遗留代码改动准则
　13.2　童子军原则
　13.3　遗留代码改动步骤
　13.4　测试点
　13.5　两步结构体初始化
　13.6　崩溃直到通过
　13.7　鉴别测试
　13.8　为第三方代码做学习测试
　13.9　测试驱动缺陷修正
　13.10　增加策略测试
　13.11　我们到哪里了
第14章　测试的模式与反模式
　14.1　“喋喋不休”测试反模式
　14.2　“拷贝－粘贴－调整－重复”反模式
　14.3　“格格不入的测试用例”反模式
　14.4　&“测试组之间的重复”反模式
　14.5　&“不尊重测试”反模式
　14.6　“行为驱动开发”测试模式
　14.7　我们到哪里了
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