X射线光电子能谱分析分析(XPS)
1x射線光电子能谱分析技术是一种表面分析方法 使用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来被光子激发出来的電子称为光电子,可以测量光电子的能量和数量从而获得待测物组成。XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成嘚分析其特点在光电子来自表面10nm以内,仅带出表面的化学信息具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点,广泛应用于金属、無机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料的研究以及腐蚀、摩擦、润滑、粘接、催化、包覆、氧化等过程的研究。
X射线光電子能谱分析缩写XPS的适用范围还是比较广的通过飞秒检测技术验证,XPS可以应用于以下领域:(1)组成样品的元素的标定 (2)各元素含量嘚计算 (3)元素的侧向分布 (4)化学态标定 (5)测量超薄(小于5纳米)样品的厚度(5)且XPS可以应用于应用于分析无机化合物、 合金、半导體、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸、墨水、木材、化妆品、牙 齿、骨骼、移植物、生物材料、油脂、胶水等
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涂抹摸摸摸摸摸鱼吐吐吐沫
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