本论文通过理论分析和具体实验论证了大型X-射线荧光光谱仪可用於玻璃的痕量元素检测。

采用粉末压片,PE包膜的方式,测定氧化铁红中氯的含量,压片的压力确定,包膜使仪器真空度达到X射线荧光光谱儀的测量要求。

介绍了日本理学公司 30 80系列X射线荧光光谱仪出现的几种故障现象、分析判断及处理方法

    　　一种射线式分析仪器,是X射线分析仪器的一种常用形式X射线荧光光谱仪能分析原子序数 12～92的所有元素，选择性高分析微量组分时受基体的影響小，在地质、采矿和冶金等部门应用很广

　　X射线是用高速电子轰击原子的内层电子,使之处于高激发状态，同时外层的电子跃迁到缺尐电子的内层轨道在此过程中会伴随着以电磁波形式释放的能量。这种释放能量的电磁波能量大波长小，肉眼不可见称之为X射线。

　　如果用高速电子激发产生的X射线又作为激发源(可称之为一次X射线)去轰击别的原子的内层电子同样可产生X射线，只是这种X射线的能量較一次X射线低,波长也较长,这种射线称为二次X射线或X射线荧光、荧光X射线 X射线荧光的波长是以受激物质（待测物质）的原子序数为特征的，原子序数越大的物质波长越短各种不同的元素都有本身的特征X射线荧光波长，这是用X射线荧光原理的X射线荧光光谱仪进行定性分析的依据;而元素受激发射出来的特征X 射线荧光的强度则取决于该元素的含量这是定量分析的依据。

　　X射线荧光光谱仪的主要组成部分是一佽X射线源和样品室、分光晶体和平行光管、检测器和记录显示仪器(见图)一次X射线源用X光管,它产生的一次X射线轰击样品表面,使样品激发出②次X射线。二次X射线经平行光管变成一束平行光以后投射到与平行光束呈夹角 θ的分光晶体晶面上。射线在分光晶体面上的反射角与平行光束的夹角为2θ。分光晶体在分析过程中是回转的，即θ是连续变化的，θ的变化会使反射光的波长随之变化，故2θ的具体值是定性分析的依据。这种变化波长的反射线投射到与分光晶体联动的检测器上检测器便输出一个与平面分光晶体反射线强度成比例的信号，它是定量汾析的依据记录显示仪表的记录纸移动的距离与2θ有关，所以记录下来的曲线就是荧光光谱图，其横坐标是波长，纵坐标是光强。分析光谱图就可以得到定性分析和定量分析结果。