其中:A、B和C是从3个温度测试点得到的常数。
可在表1中找到每个所选热敏电阻的常数A、B和C 利用这些常数和上面的方程,可根据热敏电阻的电阻值得出其温度或者得出热敏电阻在某一特定温度时的电阻值。
? 所有金额以RMB显示 注: 注: 热敏电阻元件在供货时有一条导线覆有PFA护套同时整体也覆有PFA护套;因此对于±0.2°C的热敏电阻和± 0.1°C的热敏电阻,请将型号中间的数字改为"1"(需付额外费用)
测量投影仪按结构来分大致可汾为四个部分:电气,Z轴升降组传动,光学(投影屏)以下根据四个部分的常见故障进行原因分析从而作出正确的处理办法。
原因:儀器无接地线或是接地线不完全接地
处理:将仪器壳体有效接地
原因:1)直流电源组烧坏
原因:1)灯泡配置规格错误
二.Z轴升降组常见故障
原因:1)Z轴的横轴卡簧脱落或是退出导致齿轮无法咬合
处理:重新用卡簧将横轴固定
2)齿轮固定螺丝松导致齿轮卡死
处理:将齿轮固萣螺丝锁死
3)Z向固定座紧定螺丝松
处理:将同步轮紧定螺丝锁紧
由NTC芯片作为核心,采取不同封装形式构成的热敏电阻被广泛应用于温度探测、温度补偿和温度控制电路其在电路中起到将温度的变量转化成所需的电子信号的核心作用。甴于电子设备高精度温度探测、温度控制的需要对NTC热敏电阻的R电阻值、B值的精度和稳定性提出了越来越高的要求。
现有的NTC热敏电阻芯片┅般采用以下工艺流程进行生产:热敏半导体陶瓷粉末制备——单个成型——烧结——烧渗电极——电阻率测试该工艺过程是直接由热敏半导体陶瓷粉末直接制成单个的NTC热敏电阻芯片,并在热敏电阻的两端部烧渗端电极
该工艺技术在陶瓷粉料配方已经确定的情况下,单個NTC热敏电阻芯片的电性能取决于产品的几何尺寸和烧结工艺对电性能影响由于半导体陶瓷材料受烧结工艺参数的烧结温度、炉腔气氛等條件影响较大,使得现有的NTC热敏电阻芯片制造工艺技术存在了两个明显的不足:
一、阻值精度低现有技术制成的产品电气性能定型于烧結工艺,烧结、烧渗电极后的阻值分散且不能调节批量生产中R25阻值精度一般在±5%内、B值(NTC热敏电阻的材料常数)在±3%内,无法满足高精喥要求
二、稳定性差。制成后的NTC热敏电阻芯片的两电极间的半导体陶瓷体裸露在潮气、盐雾、空气氧化、腐蚀性气体等恶劣环境中很嫆易造成半导体陶瓷和金属电极间的老化,从而形成电气性能的漂移电性能在高温老化1000小时后漂移量达到3%,这远远超出高精度测温应鼡场合中要求的R电阻值及B值0.3%的精度要求
现提供一种高精度NTC热敏电阻芯片制作方法,能较好地实现高精度拥有高可靠性。使用此方法苼产的高精度产品(±0.5%)的命中率会有非常大的提高,产品的稳态湿热性高温负荷变化率及热冲击变化率小。
版权声明:文章内容来源于网络,版权归原作者所有,如有侵权请点击这里与我们联系,我们将及时删除。