微纳金属3D打印技术应用:AFM探针?

本站是提供个人知识管理的网络存储空间,所有内容均由用户发布,不代表本站观点。请注意甄别内容中的联系方式、诱导购买等信息,谨防诈骗。如发现有害或侵权内容,请点击一键举报。

}

Nanoanalytik开发的原子力显微镜(AFMinSEMTM)空间结构紧凑,可在真空环境下实现高成像速度和高精度定位。

可集成在扫描电子显微镜(SEM)中实现样品的三维形貌表征,而不需要对SEM腔室进行额外的改造。附加新颖的微纳加工功能,如成像关联分析,扫描探针光刻,电子束诱导沉积,纳米加工(逆向工程,模板修复)等。

  • 真空环境的微纳米结构表征制备系统
  • 压阻读数和双材料激励全部集成在SmartProbe上
  • 数据线标准法兰接口,适用于多数真空腔室
  • 三轴纳米定位,水平移动范围20x20mm
}

热电材料能够实现热电转换,具有安全、节能、环保等优点,近年来备受关注,许多学者也围绕其开展了大量的研究工作。在本文,仪器信息网为大家盘点了热电材料研究实验室常用的制备与表征仪器清单。

国内研究热电材料的课题组众多,在小编的雷达范围内,整理归纳了其中四个课题组的仪器展示表格:1.中国科学院上海硅酸盐研究所热电转换材料与器件研究课题组;2.中国科学院金属研究所热电材料与器件课题组;3.同济大学材料科学与工程学院热电课题组;4.哈尔滨工业大学(深圳)材料科学与工程学院热电材料课题组。

一、中国科学院上海硅酸盐研究所热电转换材料与器件研究课题组

(课题组长:史迅研究员;副组长:柏胜强高级工程师;科研队伍:陈立东研究员、姚琴副研究员、瞿三寅副研究员、仇鹏飞副研究员等)

该课题组主要从事高性能热电材料的设计、制备与性能优化以及高性能热电器件的设计、制造与集成方面的研究,主要内容包括:1.声子液体电子晶体材料 (类液态材料);2.类金刚石结构;3.笼状化合物;4.有机热电材料和有机/无机复合热电材料;5.热电薄膜与微型热电薄膜器件;6.高性能热电器件设计与制造技术;7.热电空调/发电系统设计与集成技术;8.热电材料与器件测量技术。

放电等离子体快速烧结设备

 霍尔系数测试设备

电导率及塞贝克系数测试设备 

X射线广角/小角衍射设备

二、中国科学院金属研究所热电材料与器件课题组

(课题组长:邰凯平研究员;小组成员:康斯清工程师)

该课题组长期从事功能材料设计、制备和性能表征方面的研究工作,以界面性质对材料物理、化学性能调控作用的共性基础科学问题为研究主线,主要研究内容包括:低维热电材料;多物理外场耦合仿真环境原位透射电镜表征;纳米结构抗辐照损伤材料。在原位透射电镜技术领域的成果被Science(350,9886,2015)、Chem Rev(116,11061,2016)、Adv

多靶磁控溅射沉积系统-1

多靶磁控溅射沉积系统-2

等离子体处理/原位TEM样品杆预抽系统

微束/飞秒激光微纳加工系统

电子束/热蒸发镀膜系统

3Omega频域法热导率测试系统

自主研制的各种类型原位仿真环境(JEOL/FEI)TEM样品杆

三、同济大学材料科学与工程学院热电课题组

(课题组长:裴艳中教授;小组成员:李文副教授)

该研究小组主要针对当前热电材料转换效率较低这一技术瓶颈,从热电材料所涉及的基本物理及化学问题出发,设计和开发出高转换效率热电材料和器件。立足于前期工作的基础之上,今后具体的研究对象主要集中在半导体材料,研究内容主要包括:1.先进的材料制备方法;2.电、热、光、磁及微观结构的表征方法;3.能源材料性能所隐含的基本物理及化学问题;4.理论指导下的新型能源材料设计和开发;5.其它应用背景的半导体新材料的研究与开发。

霍尔系数/塞贝克系数/电阻率同步测试 2个样品同时测试,300~900K,磁场1.5T

塞贝克系数/电阻率同步测试系统 2个样品同时测试,300~1100K

室温塞贝克系数测试系统

电弧熔炼系统高温热压系统(升温速率>1000C/min)

台式扫描电镜&能谱


四、哈尔滨工业大学(深圳)材料科学与工程学院热电材料课题组

(课题组长张倩教授,学术顾问刘兴军教授)

该课题组正式成立于2016年秋。主要研究方向为:热电半导体能源材料的电声输运调控、热电器件的设计与效率提升,柔性可穿戴发电与制冷器件。采用与相图工程和机器学习相结合的手段,优化传统热电材料,开发新型热电材料,促进热电发电与制冷的大规模商业应用进程。

电阻率/温差电动势测试仪-CTA


需要说明的是,以上仪器设备展示仅根据各课题组网站信息整理,并非各课题组实验室仪器的全部配置。因此,小编特整理了热电材料研究实验室常用的制备与表征仪器清单,供君参考。

热电材料研究实验室仪器配置清单

马弗炉/电阻炉/管式炉/实验炉

悬浮熔炼炉/电弧熔炼炉

电子束/热蒸发镀膜设备

赛贝克系数/电阻率测试系统

3月23日“热电材料表征与检测技术”主题网络研讨会

① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。

② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。

③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。

}

我要回帖

更多关于 金属探针的使用方法 的文章

更多推荐

版权声明:文章内容来源于网络,版权归原作者所有,如有侵权请点击这里与我们联系,我们将及时删除。

点击添加站长微信