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等厚干涉的仪器
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读数显微镜，牛顿环装置，单色光源（钠光灯）（λ=5893&A）
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等厚干涉的应用
&&大学物理实验
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薄膜干涉：等厚干涉和等倾干涉
&&薄膜干涉：等厚干涉和等倾干涉
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等厚干涉-实验目的 1、复习与巩固等厚干涉原理，观察等厚干涉现象； 2、利用牛顿环测量透镜球面的曲率半径； 3、学会如何消除误差、正确处理数据的方法。 编辑本段等厚干涉-实验仪器 读数显微镜，牛顿环装置，单色光源（钠光灯）（λ=5893&A） 编辑本段等厚干涉-原理 1.当一束平行光ab入射到厚度不均匀的透明介质薄膜上，在薄膜的表面上会产生干涉现象。从上表面反射的光线b1和从下表面反射 并透射出上表面的光线a1在B点相遇（如图15?1所示），由于a1、b1有恒定的光程差，因而将在B点产生干涉。若平行光束ab垂直入射到薄膜面，即i = r = 0，薄膜厚度为d，则a1、b1的光程差为：δ= 2nd+λ/2，式中λ/2一项是由于光线从 光疏介质到光密介质而产生的半波损失。 2．利用牛顿环测一个球面镜的曲率半径 设单色平行光的波长为λ，第k级暗条纹对应的薄膜厚度为dk，考虑到下界面反射时有半波损失λ/2，当光线垂直入射时总光程差由 薄膜干涉公式求得：
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等厚干涉原理测量微小长度
&&目前实验室利用光的等厚干涉原理测量微小长度所使用的主要仪器是读数显微镜,由于测量中要数干涉条纹数目,眼睛需长时间盯着显微镜看,容易引起眼睛疲劳,从而导致测量误差,如何使条纹观测更为直观、方便是本实验需要解决的第一个问题。第二,本实验读数显微镜的读数原理与螺旋测微器相同,能不能在不影响实验装置的前提下,使读数精度得到提高呢？
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