测压电陶瓷介电温谱时，介电温谱夹具一定要校准吗？_百度知道
测压电陶瓷介电温谱时，介电温谱夹具一定要校准吗？
测压电陶瓷介电温谱时，介电温谱夹具一定要与Agilent E4990A阻抗分析仪校准吗？
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为了确保测量结果的准确性，介电温谱测试夹具应与Agilent E4990A进行开路。上下电极具有良好的同心度和平行度，保护电极可减少周围空气电容的影响如果需要测量陶瓷、薄膜材料的介电常数，需要使用专业的三琦介电温谱仪测量，使得测试数据更加准确可靠。在测量前。介电温谱仪中的测试夹具依据国际标准ASTM D150方法设计，采用平行板电极原理，测试电极由上下电极+保护电极组成
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高温介电测量
介电测量系统-
产品名称：
半导体材料高温介电测量系统
型　　号：
价　　格：
品　　牌：
产品介绍：
半导体材料高温介电测量系统供应，佰力博自主研发高温介电测量系统，HDMS高温介电测量系统首创1000℃测量环境。
高温介电测量系统的全新体验
首创1000℃环境下实现高温、宽频测量
佰力博高温介电测量系统是Partulab公司历经5年打造首款高温介电温谱测量系统，该产品是国内第一个评估介电材料性能的企业化产品，经过几年的发展该产品已经是国内从事介电材料科研人员首选检测手段。
强大的测量功能，满足您的科研需求
分析宽频、高温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，系统软件可以直接得出介电常数和介电损耗、阻抗谱、磁导率、机电耦合系数等随温度、时间、频率、偏压变化的曲线。
集成化设计，操作直观、使用方便
HDMS高温介电测量系统采用一体化集成设计，只需要简单连接系统与阻抗分析仪或LCR表测量导线，开机按照触摸屏程序提示操作，操作直观、使用方便。
稳定可靠，您可信赖的质量
每套系统在出厂前都需要做温度极限测试和温度校准测试实验，确保每一个产品稳定、可靠。保证所有产品都满足&20000小时无故障工作，Partulab把您的介电性能测量提升到全新水平。
用于分析宽频、高温条件下被测样品的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线，是专业从事材料介电性能、温度弛豫、电弛豫研究的理想测试工具。用户通过软件可以直接得出介电常数和介电损耗、阻抗谱、磁导率、机电耦合系数等随温度、时间、频率、偏压变化的曲线，高温介电测量系统是功能陶瓷器件实验室必备电学性能评估设备。
测量温度：室温---1000&C;
控温精度：&1&C ;测量精度：0.1&C
测量频率：20Hz---20MHz ；测量精度：0.05%；
可以在高温和宽频条件下测量材料的介电性能；
样品：直径小于20mm，厚度小于5mm；
可以与WK6500B阻抗分析仪无缝连接，
采用铂金电极和引线，损耗小，耐高温，抗氧化；
上电极采用弹簧电极系统，保证电极与样品稳定接触；下电极采用平板电极，方便拆卸样品；
可以与Agilent4294A、E4990A、E4980A兼容；
软件免费升级；
符合标准：ASTMD150和D2149-97，同时也符合GB/T测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下介电常数和介电损耗的推荐方法。
PARTULAB数十位工程师和用户抽丝剥茧，调整、推翻、解决，让高温介电测量系统有了全新定义，革新时代、体感未来，高温介电测量系统有了一个全新的开始。
高温介电测量系统不仅仅测量样品的介电常数和介电损耗随温度、时间、频率变化的曲线，还可以测量阻抗谱随温度、时间、频率变化的曲线，同时还得出COLE-COLE图，还可以测量压电材料的机电耦合系数等。
测量功能及应用
1、介电常数和介电损耗
通过测量C和D值，软件自动计算出介电常数和介电损耗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线，软件还可以直接得出介电常数实部和虚部的比值曲线。
2、阻抗谱及Cole-Cole图
通过测量Z和&P，软件自动计算出复阻抗随温度、时间、偏压、频率变化的曲线，软件还可以直接得出复阻抗实部和虚部比值曲线的Cole-Cole图。
3、机电耦合系数Kp
通过测量Z和C，软件自动计算出机电耦合系数随温度、时间、频率变化的曲线，软件还可以直接得出机械品质因数Qm 。
1、集成化设计、使用简单、操作方便、可靠
高温介电测量系统采用一体化集成设计，只需要简单连接系统与阻抗分析仪或LCR表测量导线，开机按照触摸屏程序提示操作，操作直观、使用方便。
2、独特的电极设计，重复性和稳定性更高
评估材料介电性能通常采用平行板电容器原理，上下电极采用两个平行板是最理想情况，但实际上在制作样品和测量过程中样品与电极两个平面不可能完全接触，通常只是一个或多个点接触，如果某个接触点导电性能不好就容易导致测量不稳定。为了避免以上现象，佰力博高温介电测量系统上电极采用半球状，下电极采用平面，该电极系统可以精确定位测量被测样品某一点，从而使系统的重复性和稳定性更好。
3、自主设计的弹簧电极系统，获得国家新型实用型专利
高温介电测量系统采用弹簧电极系统，改善了夹具因装配所产生的误差而导致测量过程中接触不良的现象。弹簧的可压缩性即不损伤样品又能让电极与样品更好的接触，确保测量的稳定性和可靠性。
4、高温条件下模拟导线屏蔽，可有效增加测试的频率带宽，减小电炉丝的交流干扰；
为了减小高温下导线受电炉丝的交流信号干扰，高温介电测量系统建立一套高温导线屏蔽模型，该模型有效减小外部信号的干扰和增加测试频率带宽，通常从阻抗分析仪接到测量电极上采用4线-2线测试方法，要求与电极连接的导线尽可能没有屏蔽的距离最小，常用的屏蔽层材料不能使用在高温环境，因此将电极引线套上耐高温绝缘材料，利用不锈钢管作为引线的屏蔽，再利用不锈钢金属块将上下电极的屏蔽连接起来，形成屏蔽回路，从而达到抗交流干扰的目的。
5、20位专家亲自指导，最完善的介电分析软件
最新的介电测量分析软件是采用Labview语言平台开发的，由20位从事介电研究的专家亲自指导，历经5年的软件升级，该软件目前是国内最完善的介电分析软件 。该软件与阻抗分析仪完美兼容，同时提供比阻抗分析仪更加丰富的测量功能，可实现对样品温度谱（C-f-T）、 频率谱（C-T-f）、偏压谱（C-V）、阻抗谱（Z-f-T）、时间谱（参数-t）、介电谱（&-f-T）等多种扫描曲线的测量。
6、内置1MHz阻抗测量，测量精度高、稳定性好
高温介电测量系统可以选择内置1MHz阻抗测量仪器，同时也可以选配英国WK公司的6500系列阻抗分析仪和LCR，提供7种机型供选择，测量频率从20Hz-120MHz，精度0.05%，提供&40V偏压。性价比更高，选择性更强，满足科研不同需求。系统已与Agilent4294、E4990A、E4980A完美兼容，在高温条件下，自主设计的电极系统稳定测量的频率范围：100Hz-20MHz 。
7、系统自带温度校准功能，让测量温度尽可能与样品实际温度保持一致
高温介电测量系统控温和测温采用同一个传感器，保证样品每次采集的温度都是样品实际温度。
为了进一步模拟样品真实温度，系统可以通过已知样品的居里温度校准测温传感器。该设计可以避免样品因导热性能不同带来测量的误差。
8、采用PID模糊算法，控温精确、无超调
高温介电测量系统采用自主研发的温度控制系统具有精确控温、超温保护、一键自整定、故障诊断功能。控温精度&1℃，测量精度0.1℃，升温斜率1-10℃可调。
针对科研院所材料介电常数和介电损耗随温度变化的测量解决方案
固体电介质测量及应用
介电材料和绝缘材料是电子和电气工程中不可缺少的功能材料，它主要应用材料的介电性能。压电、铁电材料具有各种特殊的物理性能，包括压电效应、热释电效应、电光效应、声光效应、非线性光学效应以及铁电畴的开关特性等，成为一类非常重要的功能材料，已十分广泛地应用于电子技术、激光技术和计算机技术等高新技术领域中。这一类材料总称为电介质。
薄膜介电测量及应用
介电常数是综合反映电介质极化行为的宏观物理量，体现了介质的基本特性，与物质的组成、结构、密度等许多因素有关。测量薄膜介电常数的方法很多，主要为光学方法和电学方法。光学方法主要通过测量薄膜的折射率后计算得出介电常数；而电学方法一般是通过测量薄膜电容后计算得出介电常数。电学方法用于测量制备在半导体表面的介质薄膜组成的金属-介质薄膜层-半导体结构的电容-电压（C-V)曲线，除了可以得到薄膜介电常数，还可以得到介质薄膜与半导体之间的界面特性。
温度范围：室温-1000℃， 800℃以上客户自配水冷
控温精度：&1℃
测量精度：&0.1℃
控温方式：连续升温和分段升温
升温斜率：1-5℃ /min (可控）
降温斜率：1-5℃/min (可控）
控温方式：PID精确控温
显示及存储
显示控制：8.4寸彩色触摸屏
数据接口：4个USB2.0接口
通讯接口：LAN网口通讯
数据存储：数据自动转换成EXCEL格式或BMP图片格式
冷却方式：水冷（自配水冷装置）
频率范围：20Hz-20MHz
测量精度：0.05%
样品规格：直径：20mm以内；厚度：5mm以内
测量原理：平行板电容器原理
测量方式2线-4线测量方式
电极材料：铂金
电极绝缘材料:耐高温绝缘材料
符合标准：ASTMD150和 D2149-97
供 电：220V&10%，50Hz
工作环境：0℃ - 55℃
存储条件 :- 40℃-70℃
预热时间：30分钟
尺 寸：750mmX660mmX360mm
重 量：30kg
保修期：1 年
生产厂商：英国WK
测量频率：20Hz-120MHz
测量参数：R, Z , G, Y , L , C , D, Q
基本精度：0.05%
测量速度：快速、中速、慢速
测量模式：LCR表模式和曲线扫描
AC电平：0V到 1V rms
直流偏压：0到&40V/100mA
扫描点数：1600点
通讯接口：LAN网口、GPIB接口
型号：4294A/E4990A
生产厂商：美国Agilent
测量频率：40Hz-110MHz/120MHz
测量参数：R, Z , G, Y , L , C , D, Q
基本精度：0.08%
测量速度：快速、中速、慢速
测量模式：曲线扫描
AC电平：5mV到 1V rms
直流偏压：0到&40V/100mA
扫描点数：800点
通讯接口：LAN网口、GPIB接口
型号：E4980A
生产厂商：美国Agilent
测量频率：20Hz-2MHz
测量参数：R, Z , G, Y , L , C , D, Q
基本精度：0.05%
测量速度：快速、中速、慢速
测量模式：LCR表模式
AC电平：0Vrms到2.0V rms
直流偏压：0-10V
扫描点数：1600点
通讯接口：LAN网口、GPIB接口
机架安装和外形尺寸
高温介电测量系统 & &
高温介电测量系统 室温-500℃
高温介电测量系统 室温-800℃
高温介电测量系统 室温-1000℃
/A 阻抗分析仪 6500B（20Hz-5MHz）with &40V DC BISC
/B 阻抗分析仪 6500B（20Hz-10MHz）with &40V DC BISC
/C 阻抗分析仪 6500B（20Hz-20MHz）with &40V DC BISC
/D HF LCR 6500P（20Hz-5MHz）with &40V DC BISC
/E HF LCR 6500P（20Hz-10MHz）with &40V DC BISC
/F HF LCR E4980A（20Hz-2MHz）with &40V DC BISC
夹具替换件
炉膛替换件
温度控制板替换件
高温传感器替换件
关 键 词：高温介电测量系统
高温介电测量
介电测量系统
公司名称：
联 系 人：
电　　话：
传　　真：
地　　址：
湖北武汉市庙山经济开发区庙山三路民营科技园1号（德松研发中心）
邮　　编：
主　　页：
该厂商相关产品：
工控网客服热线：9
版权所有 中华工控网&Copyright&2009 Gkong.com, All Rights ReservedAgilent E4990A可以测陶瓷介电温谱吗？_百度知道
Agilent E4990A可以测陶瓷介电温谱吗？
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ol>Agilent E4990A只可以测常温的介电数据、高温测试夹具、阻抗分析仪和三琦高温介电测量系统软件四个组成部分；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。最后。高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制，如果需要测陶瓷材料的介电温谱，还需要配合高温测试环境和高温介电测试夹具才可以。高温介电温谱测量系统可以和Agilent E4990A配合使用，测量陶瓷介电温谱数据。高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台
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高温介电温谱测量系统是为了满足材料在高温环境下的介电性能测量需求而设计的。它由硬件设备和测量软件组成，包括高温测试平台，再通过测量软件将这些硬件设备的功能整合在一起，形成一套由实验方案设计到温度控制、高温测试夹具、阻抗分析仪和三琦高温介电测量系统软件四个组成部分，如果需要测陶瓷材料的介电温谱，还需要配合高温测试环境和高温介电测试夹具才可以。高温介电温谱测量系统可以和Agilent E4990A配合使用，测量陶瓷介电温谱数据；阻抗分析仪则负责测试各组参数数据。最后。高温测试平台是为样品提供一个高温环境；高温测试夹具提供待测试样品的测试平台Agilent E4990A只可以测常温的介电数据
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